1 |
J. Lee, N. Chopra, S. H. Eom, Y. Zheng, J. Xue, F. So, and J. Shi, Appl. Phys. Lett., 93, 123306 (2008).
DOI
|
2 |
K. S. Yook, S. O. Jeon, C. W. Joo, and J. Y. Lee, Appl. Phys. Lett., 93, 113301 (2008).
DOI
ScienceOn
|
3 |
J. Lee, J. I. Lee, K. I. Song, S. J. Lee, and H. Y. Chu, Appl. Phys. Lett., 92, 203305 (2008).
DOI
ScienceOn
|
4 |
V. Sivasubramaniam, F. Brodkorb, S. Hanning, H. P. Loebl, V. Van Elsbergen, H. Boerner, U. Scherf, and M. Kreyenschmidt, J. Fluor. Chem., 130, 640 (2009).
DOI
|
5 |
J. H. Seo, Y. K. Kim, and Y. Ha, Thin Solid Films, 517, 1807 (2009).
DOI
|
6 |
H. I. Baek and C. H. Lee, J. Phys. D: Appl. Phys., 41, 105101 (2008).
DOI
|
7 |
G. Lei, Wang, and Y. Qiu, Appl. Phys. Lett., 88, 103508 (2006).
DOI
ScienceOn
|
8 |
K. S. Yook, S. O. Jeon, C. W. Joo, and J. Y. Lee, Org. Electron., 10, 170 (2009).
DOI
|
9 |
R. J. Holmes, S. R. Forrest, Y. J. Tung, R. C. Kwong, J. J. Brown, S. Garon, and M. E. Thompson, Appl. Phys. Lett., 82, 2422 (2003).
DOI
ScienceOn
|
10 |
C. W. Tang and S. A. VanSlyke, Appl. Phys. Lett., 51, 913 (1987).
DOI
|
11 |
J. Kido, M. Kimura, and K. Nagai, Science, 267, 133 2 (1995).
DOI
|
12 |
T. Tsuboi, H. Murayama, S. J. Yeh, and C. T. Chen, Opt. Mater., 29, 1299 (2007).
DOI
|