1 |
R. Hattrori, S. Yamada, Y. Masuda, and N, Nihei, Journal of the SID, 12, 175 (2004).
|
2 |
T. Kitamura, International Display Workshops, 06, 587 (2006).
|
3 |
B. H. Kim, S. W. Park, and Y. C. Kim, J. KIEEME, 22, 86 (2009).
|
4 |
D. J. Lee and Y. C. Kim, J. KIEEME, 22, 169 (2009).
|
5 |
C. W. Kim and Y. C. Kim, J. KIEEME, 23, 691 (2010).
|
6 |
D. J. Lee, I. S. Hwang, and Y. C. Kim, J. KIEEME, 21, 63 (2008).
|
7 |
D. J. Lee, R. E. Sloper, Y. H. Jeon, S. K. Han, S. Lee, K. H. Choi, W. S. Huh, and Y. C. Kim, SID Symposium Digest Tech. Papers, 11, 1523 (2011).
|
8 |
J. Heikenfeld, P. Drzaic, J. S. Yeo, and T. Koch, Journal of the SID, 19, 129 (2011).
|