1 |
S. H. Moon, Y. S. Ham, Y. H. Lee, S. M. Nam, and J. H. Koh, J. Korean Phys. Soc., 56, 399 (2010).
과학기술학회마을
DOI
ScienceOn
|
2 |
Y. Guo, K. Kakimoto, and H. Ohsato, Appl. Phys. Lett., 85, 4121 (2004).
DOI
ScienceOn
|
3 |
R. Zuo, J. Rodel, R. Cen, and Longtu Li, J. Am. Ceram. Soc., 89, 2010 (2006).
DOI
|
4 |
B. Q. Min, J. F. Wang, P. Qi, and G. Z. Zang, J. Appl. Phys., 101, 054103 (2007).
DOI
|
5 |
R. J. Xie, Y. Akimune, R.Wang, N. Hirosaki, and T. Nishimuna, Jpn. J. Appl. Phys., 42, 7404 (2003).
DOI
|
6 |
S. J. Park, H. Y. Park, K. H. Cho, S. Nahm, H. G. Lee, D. H. Kim, and B. H. Choi, Mater. Res. Bull., 42, 3580 (2008).
DOI
|
7 |
K. S. Lee, S. W. Yun, and J. H. Koh, Current Appl. Phys., 11, 86 (2011).
|
8 |
M. S. Yoon, N. H. Khansur, W. J. Lee, and S. C. Ur, Adv. Mater. Res., 287, 801 (2011).
DOI
|
9 |
S. H. Lee and Y. H. Lee, J. Ceramic Processing Research, 12, 416 (2011).
|