1 |
J. C. Lee, S. H. Ahn, J. H. Yun, J. S. Song, and K. H. Yoon, J. Kor. Vacuum Society, 9, 31 (1996).
|
2 |
T. Minami, T. miyata, and T. Yamamoto. J. Vac. Sci. Technol., A17, 1822 (1999).
|
3 |
J. P. Kim, J. S. Bae, T. E. Hong, M. S. Won, J. H. Yoon, B. S. Lee, and H. J. Lee, Thin Solid Films, 518, 6179 (2010).
DOI
|
4 |
R. Cebulla, R. Wendt, and K. Ellmer, J. Appl. Phys., 83, 1087 (1998).
DOI
ScienceOn
|
5 |
K. Tominaga, H. Manabe, N. Umezu, I. Mori, and T. Ushiro, J. Vac. Sci. Technol., A15, 1074 (1997).
|
6 |
K. U. Sim, S. W. Shin, A. V. Moholkar, J. H. Yun, J. H. Moon, and J. H. Kim, Current Appl. Phys., 10, 463 (2010).
DOI
|
7 |
H. J. Ko, Y. E. Chen, S. K. Hong, H. Wenisch, and T. Yao, Appl. Phys. Lett., 77, 3761 (2000).
DOI
ScienceOn
|
8 |
H. G. Lee, Master Thesis, p. 3-5, Gyeongsang National University, Jinju (1996).
|
9 |
B. H. Choi and H. B. Im, Thin Solid Films, 193, 712 (1990).
DOI
ScienceOn
|
10 |
J. Y. W. Seto, J. Appl. Phys., 46, 5247 (1975).
DOI
ScienceOn
|
11 |
C. E. Kim, P. Moon and S. Kim, J. M. Myoung, and H. W. Jang, Thin Solid Films, 518, 6304 (2010).
DOI
|
12 |
B. E. Sernelius, K. F. Berggren, Z. C. Jin, I. Hamberg, and C. G. Granquist, Phys. Rev., B37, 10244 (1988).
|
13 |
K. C. Park, D. Y. Ma, and K. H. Kim, Thin Solid Films, 305, 201 (1997).
DOI
ScienceOn
|