1 |
A. Saito, T. Maeda, M. Tone, T. Shiga, S. Mikoshiba, and G. Oversluizen, Proc. SID 04, 210 (2004).
|
2 |
B. Lee, W. Chung, T. Kim, T. Kim, J. Seok, and Y. Jung, Proc. SID 09, 54 (2009).
|
3 |
H. Jung, T. Lee, O. K, and K. Whang, Proc. SID 09, 58 (2009).
|
4 |
K. Yoshikawa, Y. Kanazawa, M. Wakitani, T. Shinoda, and A. Ohtsuka, Proc. Japan Display, 92, 605 (1992).
|
5 |
D. Lee, J. Ok, H. Lee, H. Lee, D. Kim, and C. Park, Proc. Int. Disp. Workshops 04, 977 (2004).
|
6 |
B. Cho, H. Tae, K. Ito, N. Jung, and K. Lee, IEEE Trans. Elec. Dev., 53, 1112 (2006).
DOI
ScienceOn
|
7 |
L. F. Weber, Proc. IDRC 03, 119 (2003).
|
8 |
G. Oversluizen, M. Klein, S. de Zwart, S. van Heusden, and T. Dekker, J. Appl. Phys., 91, 2403 (2002).
DOI
ScienceOn
|