1 |
D. H. Lee, Y. J. Chang, G. S. Herman, and C. H. Chang, Adv. Mater., 19, 843 (2007).
DOI
|
2 |
G. H. Kim, W. H. Jeong, B. D. Ahn, H. S. Shin, H. J. Kim, H. J. Kim, M. K. Ryu, K. B. Park, J. B. Seon, and S. Y. Lee, Appl. Phys. Lett., 96, 163506 (2010).
DOI
|
3 |
H. Kumomi, K. Nomura, T. Kamiya, and H. Hosono, Thin Solid Films, 516, 1516 (2008).
DOI
|
4 |
K. Nomura, H. Ohta, A. Takagi, T. Kamiya, M. Hirano, and H. Hosono, Nature, 432, 488 (2004).
DOI
|
5 |
E. G. Chong, Y. S. Chun, and S. Y. Lee, Appl. Phys. Lett., 96, 152102 (2010).
DOI
ScienceOn
|
6 |
E. G. Chong, Y. S. Chun, and S. Y. Lee, Electrochem. Solid State Lett., 14, H96 (2011).
DOI
ScienceOn
|
7 |
E. Fortunato, A. pimentel, A. Goncalve, A. Marques, and R. Martins, Thin Solid Films, 502, 104 (2006).
DOI
ScienceOn
|
8 |
B. D. Ahn, J. H. Kim, H. S. Kang, C. H. Lee, S. H. Oh, K. W. Kim, G. E. Jang, and S. Y. Lee, Thin Solid Films, 516, 1382 (2008).
DOI
|
9 |
H. S. Kim, P. D. Byrne, A. Facchetti,and T. J. Marks. J. Am. Chem. Soc., 130, 12580 (2008).
DOI
ScienceOn
|
10 |
E. M. C. Fortunato, L. M. N. Pereira, P. M. C. Barquinha, A. M. B. D. Rego, G. Gonçalves, A. Vila, J. R. Morante, and R. F. P. Martins, Appl. Phys. Lett., 92, 222103 (2008).
DOI
|
11 |
J. P. Chang, Y. S. Lin, S. Berger, A. Kepten, R. Bloom, and S. Levy, J. Vac. Sci. Technol., B19, 2137 (2001).
|
12 |
Y. J Chang, D. H. Lee, G. S. Herman, and C. H. Chang, Electrochem. Solid-State Lett., 10, 135 (2007).
|