Electrical Properties of Mg Doped ZnSnO TFTs Fabricated by Solution-process |
Choi, Jun-Young
(Electronic Materials Center, Korea Institute of Science and Technology)
Park, Ki-Ho (Electronic Materials Center, Korea Institute of Science and Technology) Kim, Sang-Sig (Semiconductor Engineering, University of Korea) Lee, Sang-Yeol (Electronic Materials Center, Korea Institute of Science and Technology) |
1 | D. H. Lee, Y. J. Chang, G. S. Herman, and C. H. Chang, Adv. Mater., 19, 843 (2007). DOI |
2 | G. H. Kim, W. H. Jeong, B. D. Ahn, H. S. Shin, H. J. Kim, H. J. Kim, M. K. Ryu, K. B. Park, J. B. Seon, and S. Y. Lee, Appl. Phys. Lett., 96, 163506 (2010). DOI |
3 | H. Kumomi, K. Nomura, T. Kamiya, and H. Hosono, Thin Solid Films, 516, 1516 (2008). DOI |
4 | K. Nomura, H. Ohta, A. Takagi, T. Kamiya, M. Hirano, and H. Hosono, Nature, 432, 488 (2004). DOI |
5 | E. G. Chong, Y. S. Chun, and S. Y. Lee, Appl. Phys. Lett., 96, 152102 (2010). DOI ScienceOn |
6 | E. G. Chong, Y. S. Chun, and S. Y. Lee, Electrochem. Solid State Lett., 14, H96 (2011). DOI ScienceOn |
7 | E. Fortunato, A. pimentel, A. Goncalve, A. Marques, and R. Martins, Thin Solid Films, 502, 104 (2006). DOI ScienceOn |
8 | B. D. Ahn, J. H. Kim, H. S. Kang, C. H. Lee, S. H. Oh, K. W. Kim, G. E. Jang, and S. Y. Lee, Thin Solid Films, 516, 1382 (2008). DOI |
9 | H. S. Kim, P. D. Byrne, A. Facchetti,and T. J. Marks. J. Am. Chem. Soc., 130, 12580 (2008). DOI ScienceOn |
10 | E. M. C. Fortunato, L. M. N. Pereira, P. M. C. Barquinha, A. M. B. D. Rego, G. Gonçalves, A. Vila, J. R. Morante, and R. F. P. Martins, Appl. Phys. Lett., 92, 222103 (2008). DOI |
11 | J. P. Chang, Y. S. Lin, S. Berger, A. Kepten, R. Bloom, and S. Levy, J. Vac. Sci. Technol., B19, 2137 (2001). |
12 | Y. J Chang, D. H. Lee, G. S. Herman, and C. H. Chang, Electrochem. Solid-State Lett., 10, 135 (2007). |