1 |
M. H. Lee, C. H. Lin, and C. W. Liu, IEEE Trans. Elec. Dev., 22, 519 (2001).
DOI
|
2 |
J. Wu, E. Rosenbaum, B. MacDonald, E. Li, B. Tracy, and P. Fang, IEEE Int. Reliab. Phys. Symp., 38, 27 (2000).
|
3 |
J. S. Lee, S. W. Do, and Y. H. Lee, IEEK, 45, 23 (2008).
|
4 |
J. H. Chen, C. T. Wei, S. C. Wong, and Y. H. Wang, Phys. Scripta., T101, 10 (2001).
|
5 |
S. T. Pantelides, S. N. Rashkeev, R. Buczko, D. M. Fleetwood, and R. D. Schrimpf, IEEE Trans. Nucl. Sci., 47, 2262 (2000).
DOI
|
6 |
B. Tuttle, Phys. Rev., B59, 12884 (1999).
|
7 |
J. W. Lyding, K. Hess, and I. C. Kizilyalli, Appl. Phys. Lett., 68, 2526 (1996).
DOI
|
8 |
K. Hess, I. C. Kizilyalli, and J. W. Lyding, IEEE Trans. Elec. Dev., 45, 406 (1998).
DOI
|
9 |
T. Kundu and D. Misra, IEEE Trans. Dev. Mater. Reliab., 6, 288 (2006).
DOI
|