1 |
R. Kiefer, B. Weber, F. Windscheid, and G. Baur, Japan Display, 547 (1992).
|
2 |
J. F. Clerc, SID Digest, 35, 758 (1991).
|
3 |
M. S. Kim, S. M. Seen, Y. H. Jung, H. Y. Kim, S. Y. Kim, K. H. Lee, Y. J. Lim, and S. H. Lee, Jpn J. Appl. Phys., 44, 8082 (2005).
DOI
|
4 |
S. H. Lee, S. L. Lee, H. Y. Kim, and T. Y. Eom, SID Digest, 30, 202 (1999).
DOI
|
5 |
S. H. Lee, S. L. Lee, and H. Y. Kim, Appl. Phys. Lett., 73, 2881 (1998).
DOI
|
6 |
M. S. Kim, Y. H. Jung, S. M. Seen, H. Y. Kim, S. Y. Kim, Y. J. Lim, and S. H. Lee, Jpn J. Appl. Phys., 44, 3121 (2005).
DOI
|
7 |
M. S. Kim, S. M. Seen, Y. H. Jeong, H. Y. Kim, S. Y. Kim, Y. J. Lim, and S. H. Lee, Jpn. J. Appl. Phys. 45, 883 (2006).
DOI
|
8 |
W. J. Lee and W. S. Park, 22nd International Liquid Crystal Conf.,(International Convention Center, Jeju, Korea, 2008)
|
9 |
D. W. Berreman and S. Meiboom, Phys. Rev. Lett., 30, 1955 (1984).
|
10 |
M. Kitamura, SID Digest., 540 (1995).
|
11 |
S. Dickmann, J. Eschler, O. Cossalter, and D. A. Mlynski, SID Digest., 638 (1993).
|