1 |
Auciello, J. F. Scott and R. Ramesh, Physics Today, 51, 22 (1998).
|
2 |
A. Werbowy, P. Firek, J. Chojnowski, A. Olszyna, J. Szmidt, and N. Kwietniewski, Phys. Stat. Sol.,. 4, 1578 (2007).
DOI
|
3 |
A. Efremov, N. K. Min, S. Kim and M. Kim, S. Nahmd, and K. H. Kwon, Microelectronic. Eng. 85, 1584 (2008).
DOI
|
4 |
M. Kim, N. K. Min, S. J. Yun, H. W. Lee, Efremov A and Kwon K. H, Microelectron. Eng. 85, 348 (2008).
DOI
|
5 |
Y. H. Ham, A. Efremov, N. K. Min, H. W. Lee, S. J. Yun, and K. H. Kwon, J. Appl. Phys. 48, 08HD04 (2009).
DOI
|
6 |
S. W. Na, M. H. Shin, Y. M. Chung, J. G. Han, S. H. Jeung, J. H. Boo and N. E. Lee, Microelectronic. Eng. 83, 328 (2006).
DOI
|
7 |
R. David and Lide, CRC Handbook of Chemistry and Physics. (CRC Press LLC, Washington, DC, (1998) p. 4.
|
8 |
N. Catalin and M. Cernea, J. Optoelectron Adv M., 8, 1879 (2006).
|
9 |
L. Liao, J. Bai, Y. C Lin, Y. Qu, Y. Huang, and X. Duan, Adv. Mater. 22, 1941 (2010).
DOI
ScienceOn
|
10 |
K. H. Kim, B. Damon, Lehn, P. V. Rao, and R. G. Gordon, Apl. Phys. Lett. 89, 133512 (2006).
DOI
|
11 |
M. C. Blanco-Lopez, B. Rand, and F. L. Riley, J. Eur. Ceram. Soc. 17, 281 (1997).
DOI
|
12 |
S. Kumar, V. S. Raju and T. R. N. Kutty, Mater. Sci. Eng. B. 142, 78 (2007).
DOI
|