1 |
Y. P. Kim, T. G. Kim, H. S. Lee, Y. P. Park, and M. W. Cheon, Journal of KIEEME(Korean), 40, 103 (2007)
|
2 |
H. S. Kim, J. Y. Oh and Y. C. Kim, Journal of KIPE, 11, 97, (2006)
|
3 |
E. C. Floyd, R. J. Warp, J. T. Dobbins, H. G. Chotas, A. H. Baydush, R. Vargas-Voracek and C. E. Ravin, Radiology, 218, 683, (2001)
DOI
|
4 |
T. G. Kim, M. W. Cheon, and Y. P. Park, J. KIEEME, 23, 534 (2010)
|
5 |
S. K. Lee, S. K. Park, H. L. Baek, and S. B. Chung, Trans. KIEE, 51B, 34, (2002)
|
6 |
H. S. Kim, C. Y. Won, D. W. Yoo, and S. W. Ha, Proc. ICPE'95 (Kor. Inst. Power Electron., Seoul 1995) p. 288.
|
7 |
G. C. Hsieh, C. H. Lin, J. M. Li and Y. C. Hsu, IEEE Trans. On Power Electron, 11, 641, (1996)
DOI
|
8 |
K. Harade, H. Sakamoto and M. Shyame, IEEE Trans. on Power Elec., 3, 406, (1988).
DOI
|
9 |
J. He, N. Mohan, and B. Wold, Proc. 1990 IEEE LAS (Industry Applications Society, Pittsburgh PA, 1990) p. 1215.
|
10 |
H. W. Jeong, J. M. Kim, and S. S. Lin, J. KSRT. 27, 23 (2004).
|