1 |
H. Yamaguchi, J. Am. Ceram. Soc., 82, 1459 (1999).
|
2 |
Y. Saito, H. Takkao, T. Nonoyama, K. Takatori, T. Homma, T. Nagaya, and M. Nakamura, Nature, 432, 84 (2004).
DOI
|
3 |
R. E. Jeager and L. Egerton, J. Am. Ceram. Soc., 45, 209 (1962).
DOI
|
4 |
R. Wang, R. Xie, T. Sekiya, Y. Shimojo, Y. Akimune, N. Hirosaki, and M. Itoh, Jpn. J. Appl. Phys., 41, 7119 (2002).
DOI
|
5 |
M. Onoe and H. Jumonji, J. Acoust. Soc. Am., 41, 974 (1967).
DOI
|
6 |
J. H. Koh, S. J. Jeong, M. S. Ha, and J. S. Song, Sensor. Actuat., A112, 232 (2004).
|
7 |
Q. M. Zhang, J. Zhao, and L. E. Cross, J. Appl. Phys., 79, 3181 (1996).
DOI
|
8 |
J. S. Song and S. J. Jeong, Mater. Sci. Forum, 48, 2225 (2003).
|
9 |
D. Viehland and J. F. Li, J. Appl. Phys., 89, 1826 (2001)
DOI
|
10 |
K. Shiratsuyu, K. Hayashi, A. Ando, and Y. Sakabe, Jpn. J. Appl. Phys., 39, 5609 (2000).
DOI
|
11 |
A. Halliyal and A. Safari, Ferroelectrics, 158, 295 (1994).
DOI
|
12 |
Y. Guo, H. Luo, K. Chen, H. Xu, X. Zhang, and Z. Yin, J. Appl. Phys., 92, 6134 (2002).
DOI
|