1 |
M. K. Lee, D. S. Wuu, H. H. Tung, K. Y. Yu, and K. C. Huang, Appl. Phys. Lett., 52, 880 (1988).
DOI
|
2 |
C. H. Yoo, J. KIEEME, 11, 12 (1998).
|
3 |
M . Sugo, Y. Takanashi, M . M . Al-jassim, and M. Yamaguchi, J. Appl. Phys., 68, 540 (1990).
DOI
|
4 |
S. M. Vernon, C. J. Keavey, E. D. Gagnons, N. H. Karam, M. M. Al-Jassim, N. H. Haegel, V. P. Mazzi, and C. R. Wie, Mat. Res. Soc., Symp. Proc., 198, 163 (1990)
DOI
|
5 |
Y. Komaha, Y. Kadota, and Y. Ohmachi, J. Electrochem. Soc., 136, 3853 (1989).
DOI
|
6 |
Irving Sax, Dangerous Properties of Industrial materials (Van Nosttraud Reinhold, New York, 1988)
|
7 |
F. G. Kellert, J. S. Whelan, and K. T. Chan, J. Elect. Mat., 18, 355 (1989).
DOI
|
8 |
C. A. Larsen, C. H. Chen, M. Kitamura, G. B. Stringfellow, D. W. Brown, and A. J. Robertson, Appl. Phys. Lett., 48, 1531 (1986).
DOI
|
9 |
M. Razeghi, F. Omnes, R. Blondeau, Ph. Maurel, M. Defour, O. Acher, E. Vassilakis, G. Mesquida, J. C. C. Fan, and J. P. Salerno, J. Appl. Phys., 65, 4066 (1989).
DOI
|
10 |
C. H. Chen, D. S. Cao, and G. B. Stringfellow, J. Elect. Mat., 17, 67 (1988).
DOI
|
11 |
R. P. Saxena, J. E. Fouquet, V. M. Sardi, and R. L. Moon, Appl. Phys. Lett., 53, 304 (1989).
|
12 |
S. P. Denbaars, J. Korean Phys. Soc., 28, 37 (1995).
|
13 |
S. H. Li, C. A. Larsen, N. I. Buchan, and G. B. Stringfellow, J. Elect. Mat., 18, 457 (1989).
DOI
|