1 |
J. He, N. Mohan, and B. Wold, Proc. 1990 IEEE IAS (Industry Applications Society, Pittsburgh PA,
1990) p. 1215.
|
2 |
Y. P. Kim, T. G. Kim, H. S. Lee, Y. P. Park, and
M. W. Cheon, J. KIEEME 22, 516 (2009).
|
3 |
T. S. Cho, J. KIEEME 17, 223 (2004).
|
4 |
M. J. Choi and J. S. Wang, J. KIEEME 10, 39 (1997).
|
5 |
J. P. Moy, Med. Phys. 27, 86 (2000).
DOI
|
6 |
C. E. Floyd, J. R. Warp, J. T. Dobbins, H. G. Chotas,
A. H. Baydush, R. V. Voracek, and C. E. Ravin, Med. Phys. 218, 683 (2001).
|
7 |
H. Takano and H. Uemura, Proc. of EPE-Firenze
1, 544 (1991).
|
8 |
H. S. Kim, C. Y. Won, D. W. Yoo, and S. W. Ha,
Proc. ICPE'95 (Kor. Inst. Power Electron., Seoul,
1995) p. 288.
|
9 |
G. C. Hsieh, C. H. Lin, J. M. Li, and Y. C. Hsu, Proc. IEEE PESC '95 (IEEE, Atlanta GA, 1995) p. 493.
|
10 |
K. Harade, H. Sakamoto, and M. Shyame, IEEE Trans. Power Electron. 3, 406 (1988).
DOI
|