1 |
T. Nakamura, K. Kunihara, and Y. Hirose, Mat. Res. Bull. 16, 321 (1981).
DOI
|
2 |
T. Mihara, H. Watanabe, and C. A. P. D. Araujo, Jpn. J. Appl. Phys. 33, 5281 (1994).
DOI
|
3 |
J. J. Lee, C. L. Thio, and S. B. Desu, J. Appl .Phys. 78, 5073 (1995).
DOI
|
4 |
D. J. Taylor, J. Geerse, and P. K. Larsen, Thin Solid Films 263, 221 (1995).
DOI
|
5 |
D. P. Vijay and S. B. Desu, J. Electrochem. Soc. 140, 2640 (1993).
DOI
|
6 |
T. Nakamura, Y. Nakao, A. Kamisawa, and H. Takasu, Appl. Phys. Lett. 65, 1522 (1994).
DOI
|
7 |
M.-S. Chen, J.-M. Wu, and T.-B. Wu, Jpn. J. Appl. Phys. 34, 4870 (1995).
DOI
|
8 |
T. Morimoto, O. Hidaka, K. Yamakawa, O. Arisumi, H. kanaya, T. Iwamoto, Y. Kumura, I. Kunishima, and S.-I. Tanaka, Jpn. J. Appl. Phys. 39, 2110 (2000).
DOI
|
9 |
D. Serrate, J. M. De Teresa, and M. R. Ibarra, J. Phys.: Condens. Matter 19, 023201 (2007).
DOI
|
10 |
T. Manako, M. Izumi, Y. Konishi, and K. I. Kobayashi, M. Kawasaki and Y. Tokura, Appl. Phys. Lett. 74, 2215 (1999).
DOI
|
11 |
H. Asano, S. B. Orale, J. Garrison, A. Orozoco, Y. H. Li, E. Li, V. Smolyaninova, C. Galley, M. Downes, M. Rajeswari, R. Ramesh, and T. Venkatesan, Appl. Phys. Lett. 74, 3696 (1999).
DOI
|