1 |
H. Uchida, R. Ueno, H. Funakubo, and S. Koda, J. Appl. Phys., 100, 014106 (2006).
DOI
|
2 |
S. Singh, and H. Ishiwara, Jpn. J. Appl., Phys. 45, 3194-3197 (2006).
DOI
|
3 |
Y. Wang, and C. W. Nan, Appl. Phys. Lett., 89, 052903 (2006).
DOI
|
4 |
H. Y. Go, N. Wakiya, H. Funakubo, K. Satoh, M. Kondo, J. Cross, K. Maruyama, N. Mizutani, and K. Shinozaki, Jpn. J. Appl. Phys., 46, 3491-3494 (2007).
DOI
|
5 |
. Y. Yun, D. Ricinschi, M. Noda, and M. Okuyama, J. Kor. Phys. Soc., 46, 281-284 (2005).
|
6 |
M. Fiebig, J. Phys. D, Appl. Phys., 38, R123–R152 (2005).
|
7 |
K. Y. Yun, M. Noda, and M. Okuvama, Appl. Phys. Lett., 83, 19 (2003).
|
8 |
G. L. Yuan, S. W. Or, W. P. Wang, Z. G. Liu, and J. M. Liu, Solid State Comm., 139, 76-81, (2006).
DOI
|
9 |
F. Huang, X. Lu, W. Lin, X. Wu, Y. Kan, and J. Zhu, Appl. Phys. Lett., 89, 242914 (2006).
DOI
|
10 |
G. L Yuan, S. W. Or, and H. L. W. Chan, J. Appl. Phys., 101, 064101 (2007).
DOI
|
11 |
G. L Yuan, S. W. Or, and H. L. W. Chan, J. Appl. Phys., 101, 024106 (2007).
DOI
|