1 |
H. Abicht, D. Voltzke, and H. Schmidt, Chem. Phys. 51, 35 (1997).
|
2 |
R. Xu, M. Shen, S. Ge, Z. Gan, and W. Cao, Thin Solid Films, 406, 113 (2002).
DOI
|
3 |
Ya. I. Alivov, F. Agara, B. Xiao, S. Chevtchenko, H. Morkoc, and J. G. Yoon, J. Korean Phys. Soc. 53, 1982 (2008).
과학기술학회마을
DOI
|
4 |
J. G. Yoon, K. O. Jung, H. J. Kim, and K. S. Kim, J. Korean Phys. Soc. 53, 2033 (2008).
과학기술학회마을
DOI
|
5 |
P.-H. Xiang, H. Takeda, and T. Shiosaki, Appl. Phys. Lett. 91, 162 (2008).
|
6 |
K.-T. Kim, C.-I. Kim, and S.-G. Lee, Microelectron. Eng. 66, 662 (2003).
DOI
|
7 |
H. Takeda, W. Aoto, and T. Shiosaki, Appl. Phys. Lett. 87, 102 (2005).
|
8 |
X. X. Wang, H. L. W. Chan, and C. L. Choy, Solid State Commun. 125, 395 (2003).
DOI
|
9 |
H. Nagata, M. Yoshida, Y. Makiuchi, and T. Takenaka, Jpn. J. Appl. Phys. 42, 7401 (2003).
DOI
|
10 |
C. Peng, J. F. Li, and W. Gong, Mater. Lett. 59, 1576 (2005).
DOI
|
11 |
B. J. Chu, D. R. Chen, G. R. Li, and Q. R. Yin, J. Eur. Ceram. Soc. 22, 2115 (2005).
|