Browse > Article

유기소재를 통한 금속산화물반도체 패시베이션  

Ho, Dong-Il (서강대학교 화공생명공학과)
Kim, Chung-Ik (서강대학교 화공생명공학과)
Publication Information
Electrical & Electronic Materials / v.33, no.5, 2020 , pp. 6-15 More about this Journal
Keywords
Citations & Related Records
연도 인용수 순위
  • Reference
1 S. M. Lee, J. H. Kwon, S. Kwon, and K. C. Choi, IEEE T. Electron. Dev., 64, 1922 (2017).   DOI
2 Y. Uraoka, J. P. Bermundo, M. N. Fujii, M. Uenuma, and Y. Ishikawa, Jpn. J. Appl. Phys. , 58, 090502 (2019).   DOI
3 L. Petti, N. Munzenrieder, C. Vogt, H. Faber, L. Buthe, G. Cantarella, F. Bottacchi, T. D. Anthopoulos, and G. Troster, Appl. Phys. Rev. , 3, 021303 (2016).   DOI
4 S. H. Cho, M. K. Ryu, H. O. Kim, O. S. Kwon, E. S. Park, Y. S. Roh, C. S. Hwang, and S. H. Ko Park, Phys. Status Solidi A, 211, 2126 (2016).   DOI
5 M. H. Kim, Y. S. Ko, H. S. Choi, S. M. Ryu, S. H. Jeon, J. H. Jung, and D. K. Choi, Phys. Status Solidi A, 213, 1873 (2016).   DOI
6 Y. J. Cho, W. S. Kim, Y. H. Lee, J. Park, and G. Kim, O. Kim, Solid-State Electron., 144, 95 (2018).   DOI
7 P. T. Liu, C. H. Chang, and C. J. Chang, Appl. Phys. Lett., 108, 261603 (2016).   DOI
8 Y. Jeong, C. Bae, D. Kim, K. Song, K. Woo, H. Shin, G. Cao, and J. Moon, ACS Appl. Mater. Interfaces , 2, 611 (2010).   DOI
9 E. Chong, K. C. Jo, and S. Y. Lee, Appl. Phys. Lett. , 2010, 96, 152102 (2010).   DOI
10 Y. J. Cho, W. S. Kim, Y. H. Lee, J. Park, G. Kim, and O. Kim, Solid-State Electron., 144, 95 (2018).   DOI
11 J. Wu, Y. Chen, D. Zhou, Z. Hu, H. Xie, and C. Dong, Mater. Sci. Semicond. Process , 2015, 29, 277.   DOI
12 K. W. Liu, B. Liu, S. J. Wang, Z. P. Wei, T. Wu, C. X. Cong, Z. X. Shen, X. W. Sun, and H. D. Sun, Journal of Applied Physics , 106, 083110 (2009).   DOI
13 D. Kim, S. Yoon, Y. Jeong, Y. Kim, Y. Kim, B. Kim, and M. Hong, Applied Physics Express , 5, 021101 (2012).   DOI
14 P. Xiao, L. Lan, T. Dong, Z. Lin, W. Shi, R. Yao, X. Zhu, and J. Peng, Appl. Phys. Lett. , 104, 051607 (2014).   DOI
15 W. Xu, D. Liu, H. Wang, L. Ye, Q. Miao, and J. B. Xu, Appl. Phys. Lett., 104, 173504 (2014).   DOI
16 W. Zhong, G. Li, L. Lan, B. Li, and R. Chen, IEEE Electron Device Lett., 39, 1680 (2018).   DOI
17 L. Wan, F. He, Y. Qin, Z. Lin, J. Su, J. Chang, and Y. Hao, Materials , 11, 1761 (2018).   DOI
18 S. E. Lee, J. Park, J. Lee, E. Lee, C. Im, H. Na, N. K. Cho, K. H. Lim, and Y. S. Kim, ACS Appl. Electron. Mater. , 1, 430 (2019).   DOI
19 M. Nakata, G. Motomura, Y. Nakajima, T. Takei, H. Tsuji, H. Fukagawa, T. Shimizu, T. Tsuzuki, Y. Fujisaki, and T. Yamamoto, Journal of the SID , 2016, 50, 3 (2016).
20 A. Kiazadeh, H. L. Gomes, P. Barquinha, J. Martins, A. Rovisco, J. V. Pinto, R. Martins, and E. Fortunato, Appl. Phys. Lett., 109, 051606 (2016).   DOI
21 S. Zhan, S. Han, S.Y. Bang, B. Li, Y. T. Chun, B. Hou, and J.M. Kim, Phys. Status Solidi A., 2019.
22 Y. J. Tak, S. T. Keene, B. H, Kang, W. G. Kim, S. J. Kim, A. Salleo, and H. J. Kim, ACS Appl. Mater. Interfaces , 2020, 12, 2615-2 37, 1006 (2016).   DOI
23 T. Toda, G. Tatsuoka, Y. Magari, and M. Furuta, IEEE Electron Device Lett., 37, 1006 (2016).   DOI
24 B. Park, D. Ho, G. Kwon, D. Kim, S.Y. Seo, C. Kim, and M. Kim, Adv. Funct. Mater. , 28, 1802717 (2018).   DOI
25 D. S. Han, J. H. Park, M. S. Kang, S. R. Shin, Y. J. Jung, D. K. Choi, J. W. Park, and J. Electron. Mater. , 44, 651 (2015).   DOI
26 G. Kwon, K. Kim, B. Choi, J. Roh, C. Lee. Y. Y. Noh, S. Seo, M. Kim, and C. Kim, Adv. Mater. , 29, 1607055 (2017).   DOI
27 M. N. Le, H. Kim, Y. Kang, Y. Song, X. Guo, Y. Ha, C. Kim, and M. Kim, J. Mater. Chem. C. , 10635 (2019).
28 J. P. Bermundo, Y. Ishikawa, H. Yamazaki, T. Nonaka, M. N. Fujii, and Y. Uraoka, Appl. Phys. Lett. , 107, 033504 (2015).   DOI