1 |
Zhu, H.; Lin, C. C.; Luo, W.; Shu, S.; Liu, Z.; Liu, Y.; Kong, J.; Ma, E.; Cao, Y.; Liu, R-S.; Chen, X. Nat. Commun. 2014, 5, 4312.
DOI
|
2 |
Pust, P.; Weiler, V.; Hecht, C.; Tucks, A.; Wochnik, A. S.; Henss, A.-K.; Wiechert, D.; Scheu, C.; Schmidt, P. J.; Schnick, W. Nat. Mater. 2014, 13, 891.
DOI
|
3 |
Daicho, H.; Iwasaki, T.; Enomoto, K.; Sasaki, Y.; Maeno, Y.; Shinomiya, Y.; Aoyagi, S.; Nishibori, E.; Sakata, M.; Sawa, H.; Matsuishi, S.; Hosono, H. Nat. Commun. 2012, 3, 1132.
DOI
|
4 |
Chen, W. T.; Sheu, H. S.; Liu, R. S.; Attfield, J. P. J. Am. Chem. Soc. 2012, 134, 8022.
DOI
|
5 |
Im, W. B.; George, N.; Kurzman, J.; Brinkley, S.; Mikhailovsky, A.; Hu, J.; Chmelka, B. F.; DenBaars, S. P.; Seshadri, R. Adv. Mater. 2011, 23, 2300.
DOI
|
6 |
Shang, M.; Li, C.; Lin, J. Chem. Soc. Rev. 2014, 43, 1372.
DOI
|
7 |
Recommendations ITU-R BT.2020-2, Parameter values for ultra-high definition television systems for production and international programme exchange, International Telecommunication Union, 2015.
|
8 |
Trupke, T.; Green, M. A.; Wurfel, P. J. Appl. Phys. 2002, 92, 1668.
DOI
|
9 |
Van der Ende, B. M.; Aarts, L.; Meijerink, A. Adv. Mater. 2009, 21, 3073.
DOI
|
10 |
Xie, R.-J.; Hirosaki, N.; Suehiro, T.; Xu, F.-F.; Mitomo, M. A. Chem. Mater. 2006, 18, 5578.
DOI
|
11 |
Brik, M. G.; Camerdello, S. J.; Srivastava, A. M. ECS J. Solid State Sci. Technol. 2015, 4, R39.
|
12 |
Wang, B.; Lin, H.; Xu, J.; Chen, H.; Wang, Y. ACS Appl. Mater. Interfaces 2014, 6, 22905.
DOI
|
13 |
Brik, M. G.; Srivastava, A. M.; J. Lumin. 2013, 133, 69.
DOI
|
14 |
Liang, S.; Shang, M.; Lian, H.; Li, K.; Zhang, Y.; Lin, J.; J. Mater. Chem. 2016, 4, 6409.
|
15 |
Kresse, G.; Hafner, J. Phys. Rev. B. 1994, 49, 14251.
DOI
|
16 |
Kresse, G.; Furthmuller, J. Comput. Mater. Sci. 1996, 6, 15.
DOI
|
17 |
Kresse, G.; Furthmuller, J. J. Phys. Rev. B. 1996, 54, 11169.
DOI
|
18 |
Perdew, J. P.; Burke, K.; Ernzerhof, M. Phys. Rev. Lett. 1996, 77, 3865.
DOI
|
19 |
Monkhorst, H. J.; Pack, J. D. Phys. Rev. B. 1976, 13, 5188.
DOI
|
20 |
Blochl, P. E. Phys. Rev. B. 1994, 50, 17953.
DOI
|
21 |
Kresse, G.; Joubert, D. Phys. Rev. B. 1999, 59, 1758.
|
22 |
Kresse, G.; Hafner, J. Phys. Rev. B. 1993, 47, 558.
DOI
|
23 |
Heyd, J.; Scuseria, G. E.; Ernzerhof, M. J. Chem. Phys. 2003, 118, 8207.
DOI
|
24 |
Krukau, A. V.; Vydrov, O. A.; Izmaylov, A. F.; Scuseria, G. E. J. Chem. Phys. 2006, 125, 224106.
DOI
|
25 |
Vydrov, O. A.; Heyd, J.; Krukau, A. V.; Scuseria, G. E. J. Chem. Phys. 2006, 125, 074106.
DOI
|