1 |
Pourbaix, M. Atlas of Electrochemical Equilibria in Aqueous Solutions; Pergamon Press Inc.; New York, 1966.
|
2 |
Diggle, J. W.; Downic, T. C.; Gouding, C. W. Chem. Rev. 1969, 65, 365.
|
3 |
Abd El Aal, M. S.; Osman, A. H. Corrosion 1980, 36, 591.
DOI
|
4 |
Chaudhary, R. S.; Singh, A. Br. Corros. J. 1993, 28, 277.
|
5 |
Bojinov, M.; Fabricius, G.; Kinnunen, P.; Laitinen, T.; Makela, K.; Saario, T.; Sundholm, G. Electrochim. Acta 2000, 45, 2791.
DOI
|
6 |
Bojinov, M.; Tzvetkoff, T. J. Phys. Chem. 2003, 107, 5101.
DOI
ScienceOn
|
7 |
Hashimoto, K. Passivity of Metals and Semiconductors, Proc. 5th Int. Symp. Passivity. M. Froment, Ed.; Elsevier: Amsterdam, 1983, p 235.
|
8 |
Moffat, T. P.; Latanision, R. M. J. Electrchem. Soc. 1992, 139, 1869.
DOI
|
9 |
Macdonald, D. D.; Sun, A.; Priyantha, N.; Jayaweera, P. J. Electroanal. Chem. 2004, 572, 421.
DOI
|
10 |
Gray, J. J.; El Dasher, B. S.; Orme, C. A. Surf. Sci. 2006, 600, 2488.
DOI
|
11 |
Ogihara, H.; Udagawa, K.; Saji, T. Surf. Coat. Technol. 2012, 206, 2933.
DOI
ScienceOn
|
12 |
Zhang, B. P.; Habazaki, H.; Kawashima, A.; Asami, K.; Hashimoto, K. Corros. Sci. 1992, 33(10), 1519.
DOI
|
13 |
Zhang, B. P.; Habazaki, H.; Kawashima, A.; Asami, K.; Hashimoto, K. Corros. Sci. 1992, 33(5), 667.
DOI
ScienceOn
|
14 |
Tjong, S. C.; Chu, P. K. Surf. Coat. Technol. 2007, 201, 6781.
DOI
|
15 |
Pang, S.; Zhang, T.; Asami, K.; Inoue, A. Mater. Sci. Eng. 2004, 375, 368.
DOI
|
16 |
Pang, S.; Shek, C. H.; Asami, K.; Inoue, A.; Zhang, T. J. Alloys Compd. 2007, 434-435, 240.
DOI
|
17 |
Arab, S. T. Orient. J. Chem. 2007, 23, 777.
|
18 |
Arab, S. T.; Emran, K. M.; Al-Turaif, H. A. J. Saudi Chem. Soc., in Press. accepted Manuscript, available online 12 June 2011. http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/ S1319610311001190
|
19 |
Boukamp, B. A. Equivalent Circuits (User Manual); University of Twente: The Netherlands, 1989.
|
20 |
Hukovic, M. M.; Omanvic, S. J. Electroanal. Chem. 1998, 455, 181.
DOI
|
21 |
Girault, P.; Grosseau-Poussard, J. L.; Dinhut, J. F.; Marechal, L. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B 2001, 174, 439.
DOI
|
22 |
Martini, E. M. A.; Amaral, S. T.; Muller, I. L. Corros. Sci. 2004, 46, 2097.
DOI
|
23 |
Perez, F. J.; Martinez, L.; Hierro, M. P.; Gomez, C.; Portela, A. L.; Pucci, G. N.; Duday, D. J. Lecomte - Beckers; J. Greday, Y. Corros. Sci. 2006, 48, 472.
DOI
|
24 |
Arab, S. T.; Emran, K. M. Influence of Cr addition on the electrochemical behavior of Ni-base metallic glasses in HCl. accepted in Physical and Chemical News.
|
25 |
Le Canut, J. M.; Maximovitch, S.; Dalard, F. J. Nucl. Mater. 2004, 334, 13.
DOI
|
26 |
Goncalves, R. S.; Azambuja, D. S.; Lucho, A. M. S. Corros. Sci. 2002, 44, 467.
DOI
|
27 |
Fontana, M. G. Corrosion Engineering, 3th ed.; Mc Graw-Hill; New York, 1987.
|
28 |
Singh, V. B.; Gupta, A. Mater. Chem. Phys. 2004, 85, 12.
DOI
|
29 |
West, J. M. Electrodeposition and Corrosion Processes; Van Nostrand Reinhold Company: New York, 1970.
|
30 |
Lee, H. J.; Akiyama, E.; Habazaki, H.; Kawashima, A.; Asami, K.; Hashimoto, K. Corros. Sci. 1995, 37, 1313.
DOI
|
31 |
Lee, H. J.; Akiyama, E.; Habazaki, H.; Kawashima, A.; Asami, K.; Hashimoto, K. Corros. Sci. 1997, 39, 321.
DOI
|
32 |
Habazaki, H.; Sato, T.; Kawashima, A.; Asami, K.; Hashimoto, K. Mater. Sci. Eng. 2001, 304-306, 696.
DOI
|
33 |
Pardo, A.; Otero, E.; Merino, M. C.; Lopez, M. D.; Vazquez, M.; Agudo, P. Corros. Sci. 2002, 44, 1193.
DOI
|
34 |
Zhang, T.; Pang, S.; Asami, K.; Inoue, A. Mater. Trans. 2003, 44, 2322.
DOI
|
35 |
Hashimoto, K.; Asami, K.; Kawashima, A.; Habazaki, H.; Akiyama, E. Corros. Sci. 2007, 49, 42.
DOI
|
36 |
Matsuura, M.; Fujita, T.; Kawashima, A.; Yuqiao, Z.; Kimura, H.; Guan, P.; Chen, M.; Inoue, A., Konno, K.; Asada, K.; J. Alloys Compd. 2010, 496, 135.
DOI
|
37 |
Rife, G.; Chan, P. C. C.; Aust, K.T.; Waseda, Y. Mater. Sci. Eng. 1981, 48, 73.
DOI
|
38 |
Mitsuhashi, A.; Asami, K.; Kawashima, A.; Hashimoto, K. Corros. Sci. 1987, 27, 957.
DOI
|
39 |
Lian, K.; Thorpe, S. J.; Kirk, D. W. Electrochim. Acta 1992, 37, 169.
DOI
|
40 |
Gassa, L. M.; Vilche, J. R.; Barbosa, M. R. Mater. Sci. Forum 1995, 192, 825.
|
41 |
Lee, H. J.; Akiyama, E.; Habazaki, H.; Kawashima, A.; Asami, K.; Hashimoto, K. Corros. Sci. 1996, 38, 469.
DOI
|
42 |
Pang, S.; Shek, C. H.; Zhang, T.; Asami, K.; Ineue, A. Corros. Sci. 2006, 48, 625.
DOI
|
43 |
Katagiri, H.; Meguro, S.; Yamasaki, M.; Habazaki, H.;Sato, T.; Kawashima, A.; Asami, K.; Hashimoto, K. Corros. Sci. 2001, 43, 183.
DOI
|
44 |
Pang, S.; Zhang, T.; Asami, K.; Inoue, A. Mater. Trans. 2002, 43, 1771.
DOI
|
45 |
Naka, M.; Hashimoto, K.; Masumoto, T. J. Non-Cryst. Solids 1979, 34, 257.
DOI
|
46 |
Hashimoto, K. Passivity of Metals and Semiconductors, Proc. 5th Int. Symp. Passivity. Froment M., Ed.; Elsevier: Amsterdam, 1983, p 247.
|
47 |
Scully, C. Passivity of Metals and semiconductors, Proc. 5th Int. Symp. Passivity. Froment M., Ed.; Elsevier: Amsterdam, 1983, p 253.
|