1 |
Vigolo, B.; Penicaud, A.; Coulon, C.; Sauder, C.; Pailler,
R.; Journet, C.; Bernier, P.; Poulin, P. Science, 2000,
290, 1331.
DOI
ScienceOn
|
2 |
Ebbesen T. W.; Lezee, H. J.; Hiura, H.; Bennet J. W.;
Ghawmi, H. F.; Thio, T. Nature, 1996, 382, 54.
DOI
|
3 |
Rinzler, A. G.; Liu, J.; Dai, H.; Nikolaev, P.; Huffman,
C. B.; Rodriguez-Macias, F. J.; Boul, P. J.; Lu, A. H.;
Heymann, D.; Colbert, D. T.; Lee, R. S.; Fisher, J. E.;
Rao, A. M.; Eklund, P. C.; Smalley, R. E. Appl. Phys. A, 1998, 67, 29.
DOI
|
4 |
Ma, R.; Xu, C. L.; Wei, B. Q.; Liang, J.; Wu, D. H.; Li, D. J. Mater. Res. Bull., 1999, 34, 741.
DOI
ScienceOn
|
5 |
Mintmire, J. W.; Dunlap, B. I.; White, C. T. Phy. Rev. Lett., 1992, 68, 631.
DOI
ScienceOn
|
6 |
Tans, S. J.; Verschueren, A. R. M.; Dekker, C. Nature,
1998, 393, 49.
DOI
|
7 |
Zhou, C.; Kong, J.; Yenilmez, E.; Dai, H., Science,
2000, 290, 1552.
DOI
ScienceOn
|
8 |
Homma, Y.; Yamashit, T.; Finnie, P.; Tomita, M.;
Ogino, T. Jpn. J. Appl. Phys. Part 2, 2002, 41, L89.
DOI
ScienceOn
|
9 |
Tans, S. J.; Devoret, M. H.; Dai, H.; Thess, A.; Smalley,
R. E.; Geerligs, L. J.; Dekker, C. Nature, 1997, 286,
474.
DOI
|
10 |
Marty, L.; Bouchiat, V.; Bonnot, A. M.; Chaumont, M.;
Fournier, T.; Decossas, S.; Roche, S. Microelectronic Engineering, 2002, 61-62, 485.
DOI
ScienceOn
|
11 |
Homma, Y.; Yamashita, T.; Kobayashi, Y.; Ogino, T.
Physica B, 2002, 323, 122.
DOI
ScienceOn
|
12 |
Endo, M.; Kim, Y. A.; Hayashi, T., Yanagisawa, T.,
Muramatsu, H.; Ezaka, M.; Terrones, H.; Terrones, M.;
Dresselhaus, M. S. Carbon, 2003, 41, 1941.
DOI
ScienceOn
|
13 |
Zheng, G.-B.; Sano, H.; Uchiyama, Y. Carbon, 2003,
41, 853.
DOI
ScienceOn
|
14 |
Jiao, J.; Seraphin, S. J. Phys. & Chem. Solids, 2000, 61,
1055.
DOI
ScienceOn
|
15 |
Dekker, C. Phys. Today, 1999, 52, 22.
|
16 |
Dai, H.; Kong, J.; Zhou, C.; Franklin N.; Tombler T.;
Cassel, A.; Fan, S.; Chapline, M. J. Phys. Chem. B,
1999, 103, 11246.
DOI
ScienceOn
|