1 |
Nakamura, S.; Mukai, T.; Senob, M. Appl. Phys. Lett. 1994, 64, 1687.
DOI
|
2 |
Shimizu, Y.; Sakano, K.; Noguchi, Y.; Moriguchi, T. U.S. Pat. 1997, 5,998,925.
DOI
ScienceOn
|
3 |
Tamura, T.; Setomo, T.; Taguchi, T. J. Lumin. 2000, 87, 1180.
DOI
ScienceOn
|
4 |
Nakamura, S.; Senob, M.; Iwasa, N.; Nagahama, S.; Yamada, T.; Mukai, T. Jpn. J. Appl. Phys. 1995, 34, L1332.
DOI
|
5 |
Nakamura, S.; Senob, M.; Iwasa, N.; Nagahama, S. Appl. Phys. Lett. 1995, 67, 1868.
DOI
ScienceOn
|
6 |
Yum, J. H.; Seo, S. Y.; Lee, S.; Sung, Y. E. J. Electrochem. Soc. 2003, 150, H47.
DOI
ScienceOn
|
7 |
Huh, Y. D.; Cho, Y. S.; Do, Y. R. Bull. Kor. Chem. Soc. 2002, 23, 1435.
DOI
ScienceOn
|
8 |
Huh, Y. D.; Shim, J. H.; Kim, Y.; Do, Y. R. J. Electrochem. Soc. 2003, 150, H57.
DOI
ScienceOn
|
9 |
Huh, Y. D.; Shim, J. H.; Do, Y. R. J. Kor. Chem. Soc. 2002, 46, 164.
DOI
ScienceOn
|
10 |
Schlotter, P.; Schmidt, R.; Schneider, J. Appl. Phys. 1997, A64, 417.
DOI
ScienceOn
|
11 |
Sato, Y.; Takahashi, N.; Sato, S. Jpn. J. Appl. Phys. 1998, 37, L129.
DOI
ScienceOn
|
12 |
Sato, Y.; Takahashi, N.; Sato, S. Jpn. J. Appl. Phys. 1996, 35, L838.
DOI
ScienceOn
|