1 |
Paloheimo, J.; Kuivaleinen, P.; Stubb, H.; Vuorimaa, E.; Yli-Lahti, P. Appl. Phys. Lett. 1990, 56, 1157-1159.
DOI
|
2 |
Nelson, S. F.; Lin, Y.-Y.; Gundlach, D. J.; Jackson, T. N. Appl. Phys. Lett. 1998, 72, 1854-1856.
DOI
ScienceOn
|
3 |
Bao, Z. N.; Lovinger, A. J.; Dodabalapur, A. Appl. Phys. Lett. 1996, 69, 4108-4110.
DOI
ScienceOn
|
4 |
Yiliang, W.; Yuning, L.; Beng, S. O.; Ping, L.; Sandra, G.; Brian, C. Adv. Mater. 2005, 17, 184-187.
DOI
ScienceOn
|
5 |
Rhoderick, E. H. Metal-semiconductor Contacts; Clarendon Press: Oxford, 1978; p 28.
|
6 |
Ruffino, F.; Grimaldi, M. G.; Giannazo, F.; Roccaforte, F.; Raineri, V. Appl. Phys. Lett. 2006, 89, 24113-24115.
|
7 |
Xia, Y.; Whitesides, G. M. Angew. Chem. Int. Ed. 1998, 37, 550-575.
DOI
ScienceOn
|
8 |
Sirringhaus, H.; Tessler, N.; Friend, R. H. Science 1998, 280, 1741-1744.
DOI
ScienceOn
|
9 |
Myung, S.; Lee, M.; Kim, G. T.; Ha, J. S.; Hong, S. Adv. Mater. 2005, 17, 2361-2364.
DOI
ScienceOn
|
10 |
Sachs, E.; Cima, M.; Bredt, J.; Curodeau, A.; Fan, T.; Brancazio, D. Manuf. Rev. 1992, 5, 117-126.
|
11 |
Wang, B.; Feng, J.; Gao, C. Macromol. Biosci. 2005, 5, 767-774.
DOI
|
12 |
Zin, M. T.; Ma, H.; Sarikaya, M.; Jen, A. K.-Y. Small 2005, 1, 698-702.
DOI
|
13 |
Ong, B. S.; Wu, Y.; Liu, P.; Gardner, S. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 3378-3379.
DOI
ScienceOn
|
14 |
Loo, Y. L.; Willett, R. L.; Baldwin, K. W.; Rogers, J. A. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 7654-7655.
DOI
ScienceOn
|
15 |
Santhanam, V.; Liu, J.; Agarwal, R.; Andres, R. P. Langmuir 2004, 19, 7881-7887.
|
16 |
Watanabe, Y.; Iechi, H.; Kudo, K. Appl. Phys. Lett. 2006, 89, 233509-233511.
DOI
|
17 |
Bozler, C. O. Surf. Sci. 1986, 74, 487-500.
|
18 |
Yang, Y.; Heeger, A. J. Nature 1994, 372, 344-346.
DOI
ScienceOn
|
19 |
Wiesendanger, R. Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy, Methods and Applications; Cambridge University Press: Cambridge, 1994; p 100.
|
20 |
Sheng, P.; Abeles, B.; Arie, Y. Phys. Rev. Lett. 1973, 31, 44-47.
DOI
|
21 |
Brust, M.; Walker, M.; Bethell, D.; Schiffrin, D. J.; Whyman, R. J. Chem. Soc. Chem. Commun. 1994, 801-802.
|