1 |
Ortiz, R. P.; Facchetti, A.; Marks, T. J. Chem. Rev. 2010, 110, 205.
DOI
|
2 |
Wang, Z.; Kim, C.; Facchetti, A.; Marks, T. J. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 13362.
DOI
|
3 |
Kim, J.; Lim, S. H.; Kim, Y. S. J. Am. Chem. Soc. 2010, 132, 14721.
DOI
|
4 |
Chen, L.-H.; Lin, P.; Ho, J.-C.; Lee, C.-C.; Kim, C.; Chen, M.-C. Synth. Met. 2011, 161, 1527.
DOI
|
5 |
Chu, B.; Zhou, X.; Ren, K.; Neese, B.; Lin, M.; Wang, Q.; Bauer, F.; Zhang, Q. M. Science 2006, 313, 334.
DOI
ScienceOn
|
6 |
Naber, R. C. G.; Mulder, M.; de Boer, B.; Blom, P. W. M.; de Leeuw, D. M. Org. Electron. 2006, 7, 132.
DOI
|
7 |
Walser, M. P.; Kalb, W. L.; Mathis, T.; Batlogg, B. Appl. Phys. Lett. 2009, 95, 233301.
DOI
|
8 |
Kim, C.; Wang, Z.; Choi, H.-J.; Ha, Y.-G.; Facchetti, A.; Marks, T. J. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 6867.
DOI
|
9 |
Kim, C.; Facchetti, A.; Marks. T. J. Science 2007, 318, 76.
DOI
ScienceOn
|