Browse > Article
http://dx.doi.org/10.5012/bkcs.2011.32.5.1457

Characterization of Few-Layer Graphene on Stretchable Substrate Using Thermally-Treated Exfoliation  

Kim, Sung-Jin (College of Electrical and Computer Engineering, Chungbuk National University)
Choi, Seong-Gon (College of Electrical and Computer Engineering, Chungbuk National University)
Publication Information
Keywords
Few-layer graphene; Raman spectra;
Citations & Related Records
Times Cited By KSCI : 1  (Citation Analysis)
Times Cited By Web Of Science : 0  (Related Records In Web of Science)
Times Cited By SCOPUS : 0
연도 인용수 순위
1 Novoselov, K. S.; Geim, A. K.; Morozov, S. V.; Jiang, D.; Zhang, Y.; Dubonos, S. V.; Grigorieva, I. V.; Firsov A. A. Science 2004, 306, 666.   DOI   ScienceOn
2 Novoselov, K. S.; Geim, A. K.; Morozov, S. V.; Jiang, D.; Katsnelson, M. I.; Grigorieva, I. V.; Dubonos, S. V.; Firsov, A. A. Nature 2005, 438, 197.   DOI   ScienceOn
3 Berger, C.; Song, Z.; Li, X.; Wu, X.; Brown, N.; Naud, C.; Mayou, D.; Li, T.; Hass, J.; Marchenkov, A. N.; Conrad, E. H.; First, P. N.; de Heer, W. A. Science 2006, 312, 1191.   DOI   ScienceOn
4 Wei, Z.; Wang, D.; Kim, S.; Kim, S.-Y.; Hu, Y.; Yakes, M. K.; Laracuente, A. R.; Dai, Z.; Marder, S. R.; Berger, C.; King, W. P.; de Heer, W. A.; Sheehan, P. E.; Riedo, E. Science 2010, 328, 1191.
5 Mori, T.; Kikuzawa, Y.; Takeuchi, H. Organic Electronics 2008, 9, 328.   DOI   ScienceOn
6 Lemme, M. C.; Echtermeyer, T. J.; Baus, M.; Szafranek, B. N.; Bolten, J.; Schmidt, M.; Wahlbrink, T.; Kurz, H. Solid-State Electrnics 2008, 52, 514.   DOI   ScienceOn
7 Sanoand, E.; Otsuji, T. Jpn. J. Appl. Phys. 2009, 48, 011604.   DOI
8 Ryu, K.; Kim, S.-J. Journal of the Korean Physical Society 2008, 53, 2015.   DOI
9 Schedin, F.; Geim, A. K.; Morozov, S. V.; Hill, E. W.; Blake, P.; Katsnelson, M. I.; Novoselov, K. S. Nature Materials 2007, 6, 652.   DOI   ScienceOn
10 Liu, Q.; Liu, Z.; Zhang, Z.; Zhang, N.; Yang, L.; Yin, S.; Chen, Y. Appl. Phys. Lett. 2008, 92, 223303.   DOI   ScienceOn
11 Kim, N.; Oh, M. K.; Park, S.; Kim, S. K.; Hong, B. H. Bull. Korean Chem. Soc. 2010, 31, 999.   DOI   ScienceOn
12 Ryu, S.; Han, M. Y.; Maultzsch, J.; Heinz, T. F.; Kim, P.; Steigerwald, M. L.; Brus, L. E. Nano Letters 2008, 8, 4597.   DOI   ScienceOn
13 Srivastava, A.; Galande, C.; Ci, L.; Song, L.; Rai, C.; Jariwala, D.; Kelly, K. F.; Ajayan, P. M. Chem. Mater. 2010, 22, 3457.   DOI   ScienceOn
14 Reina, A.; Son, H.; Jiao, L.; Fan, B.; Dresselhaus, M. S.; Liu, Z.; Kong, J. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 17741.   DOI   ScienceOn
15 Ferrari, A. C.; Meyer, J. C.; Scardaci, V.; Casiraghi, C.; Lazzeri, M.; Mauri, F.; Piscanec, S.; Jiang, D.; Novoselov, K. S.; Roth, S.; Geim, A. K. Phys. Rev. Lett. 2006, 97, 187401.   DOI
16 Wang, F.; Liu, W.; Wu, Y.; Sfeir, M. Y.; Huang, L.; Hone, J.; O'Brien, S.; Brus, L. E.; Heinz, T. F.; Shen, Y. R. Phys. Rev. Lett. 2007, 98, 047402.   DOI   ScienceOn
17 Yu T.; Ni, Z.; Du, C.; You, Y.; Wang, Y.; Shen, Z. J. Phys. Chem. 2008, 112, 12603.