1 |
Agrawal, J. P. Prog. Energy Combust. Sci. 1998, 24, 1
DOI
ScienceOn
|
2 |
Hammerl, A.; Klap tke, T. M.; N th, H.; Warchhold, M; Holl, G.; Kaiser, M.; Ticmanis, U. Inorg. Chem. 2001, 40, 3570
DOI
ScienceOn
|
3 |
Li, Q. S.; Liu, Y. D. J. Phys. Chem. A 2002, 106, 9538
DOI
ScienceOn
|
4 |
Lee, E. P. F.; Dyke, J. M.; Claridge, R. P. J. Phys. Chem. A 2002, 106, 8680
DOI
ScienceOn
|
5 |
Zheng, W.; Wong, N.-B.; Zhou, G.; Liang, X.; Li, J.; Tian, A. New J. Chem. 2004, 28, 275
DOI
ScienceOn
|
6 |
Lim, C. H.; Hong, S.; Chung, K.-H.; Kim, J. S.; Cho, J. R. Bull. Korean Chem. Soc. 2008, 29, 1415
DOI
ScienceOn
|
7 |
Klap tke, T. M.; Mayer, P.; Stierstorfer, J.; Weigand, J. J. J. Mater. Chem. 2008, 18, 5248
DOI
ScienceOn
|
8 |
da Silva, G.; Bozzelli, J. W. J. Org. Chem. 2008, 73, 1343
DOI
ScienceOn
|
9 |
Cooper, P. W. Explosives Engineering; VCH: New York, 1996
|
10 |
Meyer, R.; K hler, J.; Homburg, A. Explosives, 5th ed.; VCH-Wiley: Weinheim, Germany, 2002
|
11 |
Politzer, P. P.; Murray, J. S.; Seminario, J. M.; Lane, P.; Drice, M. E.; Concha, M. C. J. Mol. Struct. (Theochem) 2001, 573, 1
DOI
ScienceOn
|
12 |
Sikder, A. K.; Sikder, N. J. Hazard. Mat. 2004, A112, 1
|
13 |
Talawar, M. B.; Sivabalan, R.; Anniyappan, M.; Gore, G. M.; Asthana, S. N.; Gandhe, B. R. Combust. Explos. Shoch Wave 2007, 43, 62
DOI
ScienceOn
|
14 |
Agrawal, J. P. Propel. Explos. Pyrotech. 2005, 30, 316
DOI
ScienceOn
|
15 |
Singh, R. P.; Verma, R. D.; Meshri, D. T.; Shreeve, J. Angew. Chem. Int. Ed. 2006, 45, 3584
DOI
ScienceOn
|
16 |
Criste, K. O. Propel. Explos. Pyrotech. 2007, 32, 194
DOI
ScienceOn
|
17 |
Cho, J. R.; Kim, K. J.; Cho, S. G.; Kim, J. K. J. Heterocyclic Chem. 2002, 39, 141
DOI
ScienceOn
|
18 |
Cho, S. G.; Cho, J. R.; Goh, E. M.; Kim, J.-K.; Damavarapu, R.; Surapaneni, R. Propel. Explos. Pyrotech. 2005, 30, 445
DOI
ScienceOn
|
19 |
Cho, S. G.; Goh, E. M.; Kim, J. K. Propel. Explos. Pyrotech. 2006, 31, 33
DOI
ScienceOn
|
20 |
Huynh, M. H. V.; Hiskey, M. A.; Chavez, D. E.; Naud, D. L.; Gilardi, R. D. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 12537
DOI
ScienceOn
|
21 |
Colvin, K. D.; Strout, D. L. J. Phys. Chem. A 2005, 109, 8011
DOI
ScienceOn
|
22 |
Ball, D. W. J. Mol. Struct. (Theochem) 2005, 724, 19
DOI
ScienceOn
|
23 |
For recent examples, see: Banert, K.; Joo, Y.-H.; Rüffer, T.; Walfort, B.; Lang, H. Angew. Chem. Int. Ed. 2007, 46, 1168
DOI
ScienceOn
|
24 |
Wang, J. L.; Lushington, G. H.; Mezey, P. G. J. Chem. Inf. Model. 2006, 46, 1965
DOI
ScienceOn
|
25 |
Zhou, G.; Pu, X.-M.; Wong, N.-B.; Tian, A.; Zhou, H. J. Phys. Chem. A 2006, 110, 4107
DOI
ScienceOn
|
26 |
Xue, H.; Gao, H.; Twamley, B.; Shreeve, J. M. Chem. Mater. 2007, 19, 1731
DOI
ScienceOn
|
27 |
Miller, D. R.; Swenson, D. C.; Gillan, E. G. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 5372
DOI
ScienceOn
|
28 |
Miller, D. R.; Holst, J. R.; Gillan, E. G. Inorg. Chem. 2007, 46, 2767
DOI
ScienceOn
|
29 |
Li, J. Propel. Explos. Pyrotech. 2008, 33, 443
DOI
ScienceOn
|
30 |
Cromer, D. T.; Storm, C. B. Acta Crystallogr. 1990, C46, 1957
DOI
ScienceOn
|
31 |
Cho, S. G.; Park, B. S. Int. J. Quantum Chem. 1999, 72, 145
DOI
ScienceOn
|
32 |
Cromer, D. T.; Storm, C. B. Acta Crystallogr. 1990, C46, 1959
|
33 |
Bracuti, A. J. J. Chem. Crystallogr. 1995, 25, 625
DOI
|
34 |
Cho, S. G.; Cheun, Y. G.; Park, B. S. J. Mol. Struct. (Theochem) 1998, 432, 41
DOI
ScienceOn
|
35 |
Sheremetev, A. B.; Semenov. S. E.; Kuzmin, V. S.; Strlenko, Y. A.; Ioffe, S. L. Chem. Eur. J. 1998, 4, 1023
DOI
ScienceOn
|
36 |
Sheremetev, A. B.; Aleksandrova, N. S.; Melnikova, T. M.; Novikova, T. S.; Strlenko, Y. A.; Dmitriev, D. E. Heteroat. Chem. 2000, 11, 48
DOI
ScienceOn
|
37 |
Beal, R. W.; Incarvito, C. D.; Rhatigan, B. J.; Rheingold, A. L.; Brill, T. B. Propel. Explos. Pyrotech. 2000, 25, 277
DOI
ScienceOn
|
38 |
Averkiev, B. B.; Antipin, M. Y.; Sheremetev, A. B.; Timofeeva, T. V. Cryst. Growth & Des. 2005, 5, 631
DOI
ScienceOn
|
39 |
Song, S. Y.; Cho, S. G.; Goh, E. M.; Kim, J. K. Proceeding of 2001 Insensitive Munitions and Energetic Materials Technology Symposium; National Defense Industrial Association: Bordeaux, France, 2001, p 90
|
40 |
Cho, S. G.; Goh, E. M.; Kim, J. K. J. Def. Tech. Res. 2002, 8, 284
DOI
ScienceOn
|