1 |
Wolak, M. A.; Jang, B. B.; Palilis, L. C.; Kafafi, Z. H. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 5492
DOI
ScienceOn
|
2 |
Ling, M. M.; Bao, Z. Chem. Mater. 2004, 16, 4824
DOI
ScienceOn
|
3 |
Tanaka, S.; Yanagisawa, H.; Iizuka, M.; Nakaamura, M.; Kudo K. Electrical Engineering in Japan 2003, 149, 853
|
4 |
Garnier, F.; Horowitz, G.; Fichou, D.; Yassar, A. Synth. Met. 1996, 821, 163
|
5 |
Klauk, H.; Gundlach, D. J.; Jackson, T. N. IEEE Elecrton Device Lett. 1999, 20, 289
DOI
ScienceOn
|
6 |
Oh, S. Y.; Lee, J. Y. Mol. Cryst. Liq. Cryst. 2006, 444, 211
DOI
ScienceOn
|
7 |
Choo, M. H.; Kim, J. H.; Im, S. I. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 24
|
8 |
Iechi, H.; Sakai, M.; Nakamura, K.; Iizuka, M.; Nakamura, M.; Kudo, K. Synth. Met. 2005, 154, 149
DOI
ScienceOn
|
9 |
Dimitrakopoulos, C. D.; Furman, B. K.; Graham, T.; Hedge, S.; Purushothaman, S. Synth. Met. 1998, 92, 47
DOI
ScienceOn
|
10 |
Abthagir, P. S.; Ha, Y. G.; You, E. A.; Jeong, S. H.; Seo, H. S.; Choi, J. H. J. Phys, Chem. B 2005, 109, 50
|
11 |
Kim, Y. E.; Park, J. W. Mol. Cryst. Liq. Cryst. 2006, 444, 137
DOI
ScienceOn
|
12 |
Picciolo, L. C.; Murate, H.; Kafafi, Z. H. Appl. Phys. Lett. 2001, 78, 2378
DOI
ScienceOn
|