1 |
Teo, B. K. EXAFS: Basic Principles and Data Analysis; Springer: New York, 1986
|
2 |
Park, Y. J.; Hong, Y. S.; Wu, X.; Kim, M. G.; Ryu, K. G.; Chang, S. H. Bull. Korean Chem. Soc. 2004, 25, 511
DOI
ScienceOn
|
3 |
Totir, D.; Mo, Y.; Kim, S.; Antonio, M. R.; Scherson, D. A. J. Electrochem. Soc. 2000, 147, 4594
DOI
ScienceOn
|
4 |
Penner-Hahn, J. Coord. Chem. Rev. 1999, 190-192, 1101
DOI
ScienceOn
|
5 |
X-ray Absorption: Principles, Applications, Techniques of EXAFS, SEXAFS, and XANES, Koningsberger, D. C., Prins, R., Eds.; Wiley: New York, 1998
|
6 |
Kwag, G.; Park, E.; Kim, S. Bull. Korean Chem. Soc. 2004, 25, 298
DOI
ScienceOn
|
7 |
Sharpe, L. R.; Heineman, W. R.; Elder, R. C. Chem. Rev. 1990, 90, 705
DOI
|
8 |
McBreen, J.; O'Grady, W. E.; Tourillon, G.; Dartyge, E.; Fontaine, A.; Pandya, K. I. J. Phys. Chem. 1989, 93, 6308
DOI
|
9 |
Smith, D. A.; Elder, R. C.; Heineman, W. R. Anal. Chem. 1985, 2361
|
10 |
Melendres, C. A.; Mansour, A. N. Electrochim. Acta 1998, 43, 631
DOI
ScienceOn
|
11 |
Smith, D. A.; Heeg, M. J.; Heineman, W. R.; Elder, R. C. J. Am. Chem. Soc. 1984, 100, 3053
|
12 |
Kim, S.; Bae, I. T.; Sandifer, M.; Ross, P. N.; Carr, R.; Woicik, J.; Antonio, M. R.; Scherson, D. A. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 9063
DOI
|
13 |
Ha, S. Y.; Park, J.; Ohta, T.; Kwag, G.; Kim, S. Electrochem. Solid State Lett. 1999, 2, 461
DOI
|
14 |
Kim, S.; Ohta, T.; Kwag, G. Bull. Korean Chem. Soc. 2000, 21, 588
|
15 |
Reipa, V.; Mayhew, M. P.; Vilker, V. L. Proc. Natl. Acad. Sci. USA 1997, 94, 13554
DOI
ScienceOn
|
16 |
Kim, S.; Tryk, D. A.; Antonio, M. R.; Carr, R.; Scherson, D. A. J. Phys. Chem. 1994, 98, 10269
DOI
ScienceOn
|
17 |
Kunzl, V. Collect. Trav. Chim. Techoselovaquie 1932, 4, 213
|
18 |
Albarelli, M. J.; White, J. H.; Bommarito, G. M.; McMillan, M.; Abruna, H. D. J. Electroanal. Chem. 1988, 248, 77
DOI
ScienceOn
|