1 |
Chung, D. Y.; Hogan, T.; Brazis, P.; Rocci-Lane, M.; Kannewurf, C.; Bastea, M.; Uher, C.; Kanatzidis, M. G. Science 2000, 287, 1024-1027.
DOI
ScienceOn
|
2 |
Kanatzidis, M. G. Semiconduct. Semimet. 2001, 69, 51-100.
DOI
|
3 |
Kanatzidis, M. G.; Chung, D.-Y.; Iordanidis, L.; Choi, K.-S.; Brazis, P.; Rocci, M.; Hogan, T.; Kannewurf, C. In Materials Research Society Symposium Proceedings; 1999; Vol. 545, pp 233-246.
|
4 |
Schmitz, D.; Bronger, W. Z. Naturforforsch., B: Anorg. Chem. Org. Chem. 1974, 29, 438-439.
|
5 |
Smith, D. K.; Nichols, M. C.; Zolensky, M. J. E. POWD10: A FORTRAN IV Program for Calculating X-ray Powder Diffraction Patterns, Version 10; Pennsylvania State University: 1983.
|
6 |
Chung, D. Y.; Iordanidis, L.; Choi, K. S.; Kanatzidis, M. G. Bull. Korean Chem. Soc. 1998, 19, 1283-1293.
|
7 |
Kanisheva, A. S.; Mikhailov, Y. N.; Lazarev, B. V.; Trippel, A. F. Dokl. Akad. Nauk. SSSR. 1980, 252, 96-99.
|
8 |
Tandon, S. P.; Gupta, J. P. Phys. Stat. Sol. 1970, 38, 363.
DOI
|
9 |
Kanatzidis, M. G.; McCarthy, T. J.; Tanzer, T. A.; Chen, L. H.; Iordanidis, L.; Hogan, T.; Kannewurf, C. R.; Uher, C.; Chen, B. X. Chem. Mater. 1996, 8, 1465-1474.
DOI
ScienceOn
|
10 |
Wendlandt, W. W.; Hecht, H. G. Reflectance Spectroscopy; Interscience Publishers: New York, 1966.
|
11 |
Mrotzek, A.; Kanatzidis, M. G. Accounts Chem. Res. 2003, 36, 111-119.
DOI
ScienceOn
|
12 |
McCarthy, T. J.; Tanzer, T. A.; Kanatzidis, M. G. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 1294-1301.
DOI
ScienceOn
|
13 |
Huang, F. Q.; Somers, R. C.; McFarland, A. D.; Van Duyne, R. P.; Ibers, J. A. J. Solid State Chem. 2003, 174, 334-341.
DOI
ScienceOn
|
14 |
Chung, D.-Y.; Hogan, T. P.; Rocci-Lane, M.; Brazis, P.; Ireland, J. R.; Kannewurf, C. R.; Bastea, M.; Uher, C.; Kanatzidis, M. G. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 6414-6428.
DOI
ScienceOn
|
15 |
Chondroudis, K.; Kanatzidis, M. G. J. Solid State Chem. 1998, 136, 328-332.
DOI
ScienceOn
|
16 |
Iordanidis, L.; Bilc, D.; Mahanti, S. D.; Kanatzidis, M. G. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 13741-13752.
DOI
ScienceOn
|
17 |
Yang, Y. T.; Brazis, P.; Kannewurf, C. R.; Ibers, J. A. J. Solid State Chem. 2000, 155, 243-249.
DOI
ScienceOn
|
18 |
Huang, F. Q.; Mitchell, K.; Ibers, J. A. J. Alloy Compd. 2001, 325, 84-90.
DOI
ScienceOn
|
19 |
Lukaszewicz, K.; Stepen'-Damm, Y.; Pietraszko, A.; Kajokas, A.;Grigas, J. Pol. J. Chem. 1999, 73, 541-546.
|
20 |
Sheldrick, G. M. SHELXTL NT Version 6.12; Bruker Analytical X-ray Instruments, Inc.: Madison, WI, 2000.
|