1 |
Hahn, J. R.; Hong, Y. A.; Kang, H. Appl. Phys. 1998, A66, S467
DOI
ScienceOn
|
2 |
Fan, F.-R. F.; Bard, A. J. Science 1995, 270, 1849
DOI
ScienceOn
|
3 |
Heim, M.; Eschrich, R.; Hillebrand, A.; Knapp, H. F.; Guckenberger, R.; Cevc, G. J. Vac. Sci. Technol. 1996, B42, 1498
|
4 |
Schmickler, W. Surf. Sci. 1995, 335, 416
DOI
ScienceOn
|
5 |
Song, M. B.; Jang, J. M.; Bae, S. E.; Lee, C. W. accepted for publication in Langmuir
|
6 |
Lang, N. D. Phys. Rev. 1987, B36, 8173
DOI
ScienceOn
|
7 |
Ahn, J. H.; Pyo, M. H. Bull. Korean Chem. Soc. 2000, 21, 644
|
8 |
Wiesendanger, R. Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy, Methods and Applications; Cambridge: New York, 1994
|
9 |
Meepagala, S. C.; Real, F. Phys. Rev. 1994, B49, 10761
DOI
ScienceOn
|
10 |
Pan, J.; Jing, T. W.; Lindsay, S. M. J. Phys. Chem. 1994, 98, 4205
DOI
ScienceOn
|
11 |
Guckenberger, R.; Heim, M.; Cevc, G.; Knapp, H. F.; Weigrabe, W.; Hillebrand, A. Science 1994, 266, 1538
DOI
|
12 |
Vaught, A.; Jing, T. W.; Lindsay, S. M. Chem. Phys. Letts. 1995, 236, 306
DOI
ScienceOn
|
13 |
McCarley, R. L.; Hendricks, S. A.; Bard, A. J. J. Phys. Chem. 1992, 96,10089
DOI
|
14 |
Sass, J. K.; Gimzewski, J. K. J. Electroanal. Chem. 1991, 308, 333
DOI
ScienceOn
|
15 |
Mamin, H. J.; Ganz, E.; Abraham, D. W.; Thomson, R. E.; Clarke, J. Phys. Rev. 1986, B34, 9015
DOI
ScienceOn
|
16 |
Schuster, R.; Barth, J. V.; Wintterlin, J.; Behm, R. J.; Ertl, G. Ultramicroscopy 1992, 42-44, 533
DOI
ScienceOn
|
17 |
Biscarini, F.; Kenkre, V. M. Surf. Sci. 1999, 426, 336
DOI
ScienceOn
|
18 |
Olesen, L.; Laegsgaard, E.; Stensgaard, I.; Besenbacher, F.; Schiotz, J.; Stoltze, P.; Jacobsen, K. W.; Norskov, J. K. Phys. Rev. Letts. 1994, 72, 2251
DOI
ScienceOn
|
19 |
Hong, Y. A.; Hahn, J. R.; Kang, H. J. Chem. Phys. 1998, 108, 4367
|