Error Correction Code and SEU Test Analysis of Mass Memory for STSAT-3 |
Seo, In-Ho
(한국과학기술원 인공위성연구센터)
Ryu, Kwang-Sun (한국과학기술원 인공위성연구센터) Oh, Dae-Soo (한국과학기술원 인공위성연구센터) Kim, Byung-Jun (대구경북과학기술연구원) |
1 | 곽성우, 박홍영, “과학기술위성 1호 탑재 컴퓨터에서의 SEUs 극복을 위한 메모리 운용 및 해석”, 항공우주학회지, Vol. 32 (1), pp. 98-105, 2004. 과학기술학회마을 DOI ScienceOn |
2 | 곽성우, “과학기술위성 3호 대용량 메모리에서의 SEU 극복 방법 및 확률해석”, 전자공학회 논문지, 제45권 4호, pp. 35-41, 2008. 과학기술학회마을 |
3 | 김병준, 곽성우, 유상문, 김형신, “과학기술위성 3호 탑재 컴퓨터와 대용량 메모리에 적용될 EDAC 알고리즘의 비교 및 분석”, 2008년도 한국항공우주학회 추계학술발표회, 논문집2, pp. 1586 - 1589. |
4 | http://www.informit.com/content/images/art_sklar7_reed-solomon/elementLinks/art_sklar7_reed-solomon.pdf |
5 | Kwangsun Ryu, Goo-Hwan Shin, Hyung-Myung Kim, Heejoon Kim, and Kyungwook Min, "Single Event Upset Measurements of Memory Chips for the Langmuir Probe on STSAT-2", Journal of the Korean Physical Society, Vol. 52, No. 3, pp. 853-857, 2008. DOI ScienceOn |