1 |
J. Kolodzey, E. A. Chowdhury, T. N. Adam, G. Qui, I. Rau, J. O. Olowolafe, and J. S. Suehle, IEEE Trans. Electron Devices 47, 121 (2000).
DOI
ScienceOn
|
2 |
S. Berry, J. Kedzierski, and B. Abedian, J. Colloid Interface Sci. 303, 517 (2006).
DOI
ScienceOn
|
3 |
A. Quinn, R. Sedev, and J. Ralston, J. Phys. Chem. B 107, 1163 (2003).
DOI
ScienceOn
|
4 |
B. Berge and J. Peseux, Eur. Phys. J. E 3, 159 (2000).
DOI
ScienceOn
|
5 |
S. Kuiper and B. H. W. Hendriks, Appl. Phys. Lett. 85, 1128 (2004).
DOI
ScienceOn
|
6 |
B. Hendriks and S. Kuiper, IEEE Spectr. 41, 32 (2004).
|
7 |
K. -S. Yun, I. -J. Cho, J. -U. Bu, C. -J. Kim, and E. Yoon, J. Microelectromech. Syst. 11, 454 (2002).
DOI
ScienceOn
|
8 |
P. Y. Paik, V. K. Pamula, and K. Chakrabarty, IEEE Des. Test Comput. 25, 372 (2008).
DOI
|
9 |
R. A. Hayes and B. J. Feenstra, Nature 425, 383 (2003)
DOI
ScienceOn
|
10 |
Y. S. Nanayakkara, H. Moon, T. Payagala, A. B. Wijeratne, J. A. Crank, P. S. Sharma, and D. W. Armstrong, Anal. Chem. 80, 7690 (2008).
DOI
ScienceOn
|
11 |
S. Xu, Y. J. Lin, and S. T. Wu, Opt. Express 17, 10499 (2009).
DOI
|
12 |
C. C. Cheng, and J. A. Yeh, Opt. Express. 15, 7140 (2007).
DOI
|
13 |
B. Berge, Nikkei Electronics 911, 129 (2005).
|
14 |
H. Moon, S. K. Cho, R. L. Garrell, and C. -J. Kim, J. Appl. Phys. 92, 4080 (2002).
DOI
ScienceOn
|
15 |
F. Mugele and J. -C. Baret, J. Phys. -Condes. Matter 17, R705 (2005).
DOI
ScienceOn
|