1 |
Y. He, R. Hattori, and J. Kanicki, IEEE Trans. Electron Devices, 48, 1322 (2001)
DOI
ScienceOn
|
2 |
A. Yumoto, M. Asano, H. Hasegawa, and M. Sekiya, in AD and IDW Tech. Dig. (2001), p 1395
|
3 |
S. Y. Chin and C. Y. Wu, IEEE Trans. JSSC, 29, 1374 (1994)
|
4 |
R. M. A. Dawson, Z. Shen, D. A. Furst, S. Connor, J. Hsu, M. G. Kane, R. G. Stewart, A. Ipri, C. N. King, P. J. Green, R. T. Flegal, S. Pearson, W. A. Barrow, E. Dickey, K. Ping, C. W. Tang, S. Van Slyke, F. Chen, J. Shi, J, C. Sturm, and M. H. Lu, in SID Tech. Dig. (1998), p. 11
|
5 |
S. J. Bae, H. S. Lee, J. Y. Lee, J. Y. Park, and C. W. Han, in SID Tech. Dig. (2000), P. 358
|
6 |
Y. S. Na, O. K. Kwon, and H. S. Kim, Korean Patent No. 10-0327374
|
7 |
R. M. A. Dawson, Z. Shen, D. A. Furst, S. Connor, J. Hsu, M. G. Kane, R. G. Stewart, A. Ipri, C. N. King, P. J. Green, R. T. Flegal, S. Pearson, W. A. Barrow, E. Dickey, K. Ping, S. Robinson, C. W. Tang, S. Van Slyke, F. Chen, J. Shi, M. H. Lu, and J. C. Sturm, in IEDM Tech. Dig. (1998), P. 875
|
8 |
O. Prache, in SID Tech. Dig. (2001), p. 514
|
9 |
M. T. Johnson, I. M. Hunter, N. D. Young, I. G. J. Camps, H. Lifka, and A. J. M. v. d. Biggelaar, in IDW Tech. Dig. (2000), P. 235
|