Browse > Article

Microcolumn and field emission elecrton sources  

Kim, Ho-Seop (선문대학교 디스플레이반도체공학과, 나노학과, 차세대반도체기술연구소)
Publication Information
Information Display / v.21, no.5, 2020 , pp. 26-33 More about this Journal
Keywords
Citations & Related Records
연도 인용수 순위
  • Reference
1 E. Kratschmer, H. S. Kim, M. G. R. Thomson, K. Y. Lee, S. A. Rishton, M. L. Yu, S. Zolgharnain, B. W. Hussey, T. H. P. Chang, J. Vac. Sci. Technol. B, 14(6), 3792 (1996)   DOI
2 T, H. P. Chang, M. G. R. Thomson, E. Kratschmer, H. S. Kim, M. L. Yu, K. Y. Lee, S. A. Rishton, B. W. Hussey, S. Zolgharnain, J. Vac. Sci. Technol. B, 14(6), 3774 (1996)   DOI
3 H. S. Kim, M. L. Yu, U. Staufer, L. P. Muray, D. P. Kern, T. H. P. Chang, J. Vac. Sci. Technol. B, 11(6), 2327 (1993)   DOI
4 J. H. Ryu, J. S. Kang, K. C. Park, Materials, 5(11), 2353 (2012)   DOI
5 J. M. Bonard, K. A. Dean, B. F. Coll, C. Klinke, Phys. Rev. Lett., 89(19), 197602 (2002)   DOI
6 N. D. Jonge, N. J. van Druten, Ultramicroscopy, 95, 85 (2003)   DOI
7 S. K. Kanth, A. Sharma, B. C. Park, H. S. Kim, J. Vac. Sci. Technol. B, 34(1), 011805 (2016)   DOI
8 T. H. P. Chang, D. P. Kern, L. P. Muray, J. Vac. Sci. Technol. B, 8(6), 1698 (1990)   DOI
9 M. G. R. Thomson, T. H. P. Chang, J. Vac. Sci. Technol. B, 13(6), 2445 (1995)   DOI
10 H. Kim, C. H. Han, K. J. Chun, Jap. J. App. Phys., 42(6B), 4084 (2003)   DOI
11 H. Kim, C. H. Han, J. W. Kim, H. S. Kim, K. J. Chun, J. Vac. Sci. Technol. B, 22(6), 2912 (2004)   DOI
12 J. W. Jeong, D. J. Kim, H. S. Kim, S. K. Choi, D. Y. Kim, H. R. Lee, Jap. J. App. Phys., 44(7B), 5565 (2005)   DOI
13 T, H. P. Chang, D. P. Kern, M. A. McCord, J. Vac. Sci. Technol. B, 7(6), 1855 (1989)   DOI
14 T, H. P. Chang, D. P. Kern, L. P. Muray, J. Vac. Sci. Technol. B, 10(6), 2743 (1992)   DOI
15 K. Y. Lee, S. A. Rishton, T. H. P. Chang, J. Vac. Sci. Technol. B, 12(6), 3425 (1994)   DOI
16 K. Y. Lee, N. LaBianca, S. A. Rishton, S. Zolgharnain, J. D. Gelorme, J. Shaw, T. H. P. Chang, J. Vac. Sci. Technol. B, 13(6), 3012 (1995)   DOI
17 M. G. R. Thomson, J. Vac. Sci. Technol. B, 14(6), 3802 (1996)   DOI
18 M. Mankos, K. Y. Lee, L. Muray, J. Spallas, Y. Hsu, C. Stebler, W. DeVore, E. Bullock, T. H. P. Chang, J. Vac. Sci. Technol. B, 18(6), 3057 (2000)   DOI
19 T. S. Oh, D. W. Kim, S. J. Ahn, H. S. Kim, J. Vac. Sci. Technol. A, 31(6), 061601 (2013)
20 T. S. Oh, H. S. Kim, S. J. Ahn, D. W. Kim, Ultramicroscopy, 136, 171 (2014)   DOI
21 J. Y. Park, J. D. Lera, M. A. Yakshin, S. S. Choi, Y. Lee, K, J. Chun, J. D. Lee, D. Jeon, Y. Kuk, J. Vac. Sci. Technol. B, 15(6), 2749 (1997)   DOI
22 L. P. Muray, K. Y. Lee, J. P. Spallas, M. Mankos, Y. Hsu, M. R. Gmur, H. S. Gross, C. B. Stebler, T. H. P. Chang, Microelectron. Eng., 53, 271 (2000)   DOI
23 U. Staufer, L. P. Murray, O. P. Kern, T. H. P. Chang, J. Vac. Sci. Technol. B, 9(6), 2962 (1991)   DOI
24 T. H. P. Chang, M. Mankos, K. Y. Lee, L. P. Muray, Microelectron. Eng., 57-58, 117 (2001)   DOI
25 H. S. Kim, D. W. Kim, S. Ahn, S. S. Park, M. H. Seol, Y. C. Kim, S. K. Choi, D. Y. Kim, J. Korean Phys. Soc., 45, 1214 (2004)
26 H. S. Kim, D. W. Kim, S. Ahn, Y. C. Kim, J. W. Cho, S. K. Choi, and D. Y. Kim, Microelectron. Eng., 78-79, 55 (2005)   DOI
27 M. L. Yu, H. W. Hussey, H. S. Kim, T. H. P. Chang, J. Vac. Sci. Technol. B, 12(6), 3431 (1994)   DOI
28 H. S. Kim, M. L. Yu, E. Kratschmer, M. G. R. Thomson, and T. H. P. Chang, J. Vac. Sci. Technol. B, 12(6), 3413 (1994)   DOI
29 H. S. Kim, M. L. Yu, E. Kratschmer, M. G. R. Thomson, and T. H. P. Chang, J. Appl. Phys., 81(1), 461 (1997)   DOI
30 E. Kratschmer, H. S. Kim, M. G. R. Thomson, K. Y. Lee, S. A. Rishton, M. L. Yu, and T. H. P. Chang, J. Vac. Sci. Technol. B, 12(6), 3503 (1994)   DOI
31 L. W. Swanson, J. Vac. Sci. Technol., 12(6), 1228 (1975)   DOI
32 M. Gesley, J. Appl. Phys., 65(3), 914, (1989)   DOI
33 M. G. R. Thomson, R. Liu, R. J. Collier, H. T. Carroll, E. T. Doherty, R. G. Murray, J. Vac. Sci. Technol. B, 5(1), 53 (1987)   DOI
34 M. G. R. Thomson, J. Vac. Sci. Technol. B, 12(6), 3498 (2014)   DOI
35 W. I. Milne, K. B. K. Teo, G. A. J. Amaratunga, P. Legagneux, L. Gangloff, J-P. Schnell, V. Semet, V. Thien Binh, O. Groeningd, J. Mater. Chem., 14, 933 (2004)   DOI
36 J. W. Kim, J. W. Jeong, J. T. Kang, S. Y. Choi, S. R. Park, M. S. Shin, S. J. Ahn, Y. H. Song, Carbon, 82, 245 (2015)   DOI
37 J. H. Ryu, K. S. Kim, C. S. Lee, J. Jang, K. C. Park, J. Vac. Sci. Technol. B, 26(2), 856 (2008)   DOI
38 J. W. Jeong, J. W. Kim, J. T. Kang, S. Y. Choi, S. J. Ahn, Y. H Song, Nanote chnology, 24(8), 085201 (2013)   DOI
39 J. W. Kim, J. W. Jeong, J. T. Kang, S. Y. Choi, S. J. Ahn, Y. H. Song, Nanote chnology, 25(6), 065201 (2014)   DOI