1 |
D. Sarkar, J. Tao, W. Wang, Q. Lin, M. Yeung, C. Ren, and R. Kapidia, ACS Nano 12(2), 1656 (2018).
DOI
|
2 |
Y. Nishitani, Y. Kaneko, M. Ueda, T. Morie, and E. Fujii, J. Appl. Phys. 111(12), 124108 (2012).
DOI
|
3 |
Q. Lai, L. Zhang, Z. Li, W. F. Stickle, R. S. Williams, and Y. Chen, Adv. Mater. 22(22), 2448 (2010).
DOI
|
4 |
J. Shi, S. D. Ha, Y. Zhou, F. Schoofs, and S. A. Ramanathan, Nat. Commun. 4, 2676 (2013).
DOI
|
5 |
E. J. Fuller, F. E. Gabaly, F. Leonard, S. Agarwal, S. J. Plimpton, R. B. Jacobs-Gedrim, C. D. James, M. J. Marinella, A. A. Talin, Adv. Mater. 29(4), 1604310 (2017).
DOI
|
6 |
C. S. Yang, D. S. Shang, N. Liu, G. Shi, X. Shen, R. C. Yu, Y. Li, and Y. Sun, Adv. Mater. 29(27), 1700906 (2017).
DOI
|
7 |
P. B. Pillai and M. M. De Souza, ACS Appl. Mater. Interfaces 9(2), 1609 (2017).
DOI
|
8 |
P. Yang, D. Park, K. Beom, H. J. Kim, C. J. Kang, and T. -S. Yoon, Nanotechnology 29(29), 295201 (2018).
DOI
|
9 |
K. Beom, P. Yang, D. Park, H. J. Kim, H. H. Lee, C. J. Kang, and T. -S. Yoon, Nanotechnology 30(2), 025203 (2019).
|
10 |
K. Beom, M. Kim, H. Lee, H. J. Kim, S. -Y. Cho, H. H. Lee, C. J. Kang, and T. -S. Yoon, Nanotechnology 31(26), 265201 (2020).
DOI
|
11 |
G. Cauwenberghs, Proc. Natl. Acad. Sci. 110(39), 15512 (2013).
DOI
|
12 |
H. -S. P. Wong and S. Salahuddin, Nat. Nanotech. 10, 191 (2015).
DOI
|
13 |
A. Sebastian, T. Tuma, N. Papandreou, M. Le Gallo, L. Kull, T. Parnell, and E. Eleftheriou, Nat. Commun. 8, 1115 (2017).
DOI
|
14 |
S. Moradi, S. A. Bhave, and R. Monohar, IEEE Symp. Series on Comutational Intelligence, doi : 10.1109/SSCI. 2017.8285437 (2017).
|
15 |
D. Lee, M. Kwak, K. Moon, W. Choi, J. Park, J. Yoo, J. Song, S. Lim, C. Sung, W. Banerjee, and H. Hwang, Adv. Electron. Mater. 5(9), 1800866 (2019).
DOI
|
16 |
D. Dev, A. Krishnaprasad, M. S. Shawkat, Z. He, S. Das, D. Fan, H. -S. Chung, Y. Jeong, and T. Roy, IEEE Elec. Dev. Lett. 41(6), 936 (2020).
DOI
|
17 |
http://en.wikipedia.org/wiki/Synapse
|
18 |
L. Q. Zhu, C. J. Wan, L. Q. Guo, Y. Shi, and Q. Wan, Nat. Commun. 5, 3158 (2014).
DOI
|
19 |
S. H. Jo, T. Chang, I. Ebong, B. B. Bhadviya, P. Mazumder, and W. Lu, Nano Lett. 10(4), 1297 (2010).
DOI
|
20 |
D. C. Rubin, S. Hinton, and A. Wenzel, J. Exp. Psychol.:Learn. Mem. Cognit. 25(5), 1161 (1999).
DOI
|
21 |
R. C. Atkinson and R. M. Shiffrin, Psychol. Rev. 76(2), 179 (1969).
DOI
|
22 |
T. Ohno, T. Hasegawa, T. Tsuruoka, K. Terabe, J. K. Gimzewski, and M. Aono, Nat. Mater. 10(8), 591 (2011).
DOI
|
23 |
H. -S. P. Wong, S. Raoux, S. Kim, J. Liang, J. P. Reifenberg, B. Rajendran, M. Asheghi, and K. E. Goodson, Proc. IEEE 98(12), 2201 (2010).
DOI
|
24 |
D. Kuzum, R. G. Jeyasingh, B. Lee, and H. -S. P. Wong, Nano Lett. 12(5), 2179 (2012).
DOI
|
25 |
F. Rao, K. Ding, Y. Zhou, Y. Zheng, M. Xia, S. Lv. Z. Song, S. Feng, I. Ronneberger, and R. Mazzarello, Science 358(6369), 1423 (2017).
DOI
|
26 |
Z. Wang, M. Yin, T. Zhang, Y. Cai, Y. Wang, Y. Yang, and R. Huang, Nanoscale 8(29), 14015 (2016).
DOI
|
27 |
S. Choi, S. H. Tan, Z. Li, Y. Kim, C. Choi, P. Y. Chen, H. Yeon, S. Yu, J. Kim, Nat. Mater. 17(4), 335 (2017).
DOI
|
28 |
K. Seo, I. Kim, S. Jung, M. Jo, S. Park, J. Park, J. Shin, K. P. Biju, J. Kong, K. Lee, B. Lee, and H. Hwang, Nanotechnology 22(25), 254023 (2011).
DOI
|
29 |
H. J. Kim, M. Kim, K. Beom, H. Lee, C. J. Kang, and T. -S. Yoon, APL Mater. 7(7), 071113 (2019).
DOI
|
30 |
C. Diorio, P. Hasler, B. A. Minch, and C. A. Mead, IEEE Trans. Elec. Dev. 43(11), 1972 (1996).
|
31 |
H. Kim, J. Park, M. -W. Kwon, J. -H. Lee, and B. -G. Park, IEEE Elec. Dev. Lett. 37(3), 249 (2016).
DOI
|