1 |
P. Hansen, D. Hennings, and H. Schreinemacher, J. Am. Ceram. Soc. 81, 1369 (1998).
|
2 |
H. Kishi, N. Kohzu, and J. Sugino, J. Eur. Ceram. Soc. 20, 1997 (2000).
DOI
ScienceOn
|
3 |
S. P. Nam, S. G. Lee, S. G. Bae, and Y. H. Lee, J. Electr. Eng. Technol. 2, 98 (2007).
DOI
ScienceOn
|
4 |
S. Anwar, P. R. Sagdeo, and N. P. Lalla, Solid State Commun. 138, 331 (2006).
DOI
ScienceOn
|
5 |
B. J. Sung, E. W. Lee, and J. G. Lee, J. Electr. Eng. Technol. 3, 293 (2008).
DOI
ScienceOn
|
6 |
I. J. Cho, K. S. Yun, and H. J. Nam, J. Electr. Eng. Technol. 6, 119 (2011).
DOI
ScienceOn
|
7 |
M. Matsubara, T. Yamaguchi, K. Kikuta, and S. Hirano, Jpn. J. Appl. Phys. 43, 7159 (2004).
DOI
|
8 |
W. K. Jeung, S. M. Choi, and Y. J. Kim, J. Electr. Eng. Technol. 1, 263 (2006).
DOI
ScienceOn
|
9 |
S. J. Zhang, R. Xia, T. R. Shrout, G. Z. Zang, and J. F. Wang, J. Appl. Phys. 100, 104108 (2006).
DOI
|
10 |
H. J. Bae, J. Koo, and J. P. Hong, J. Electr. Eng. Technol. 1, 120 (2006).
DOI
ScienceOn
|
11 |
G. L. Yuan and S. W. Or, Appl. Phys. Lett. 88, 062905 (2006).
DOI
ScienceOn
|
12 |
M. S. Kim, Y. M. Jeon, Y. M. Im, Y. H. Lee, and T. H. Nam, Trans. Electr. Electron. Mater. 12, 20 (2011).
DOI
ScienceOn
|
13 |
S. H. Lee, J. Electr. Eng. Technol. 2, 102 (2007).
DOI
ScienceOn
|
14 |
H.-J. Noh, S. G. Lee, and S. P. Nam, J. Electr. Eng. Technol. 4, 527 (2009).
DOI
ScienceOn
|
15 |
V. V. Thang, I. S. Kim, S. J. Jeong, M. S. Kim, and J. S. Song, J. Electr. Eng. Technol. 6, 671 (2011).
DOI
ScienceOn
|
16 |
K. S. Chang, S. M. Kang, K. G. Park, S. H. Shin, H. S. Kim, and H. S. Kim, J. Electr. Eng. Technol. 7, 75 (2012).
DOI
ScienceOn
|
17 |
K. A. Fonteyn, A. Belahcen, P. Rasilo, R. Kouhia, and A. Arkkio, J. Electr. Eng. Technol. 7, 336 (2012).
DOI
ScienceOn
|