1 |
J. H. Kim, B. H. Noh, G. D. Lee, and S. S. Hong, Korean J. Chem. Eng., 22, 370 (2005).
DOI
ScienceOn
|
2 |
J. Wang, X. Han, W. Zhang, Z. He, C. Wang, R. Cai, and Z. Liu, Crst. Eng. Comm., 11, 561 (2009).
|
3 |
S. M. Kim, T. K. Yun, and D. I. Hong, J. Kor. Chem. Soc., 49, 567 (2005).
DOI
ScienceOn
|
4 |
A. L. Patterson, Phys. Rev., 56, 978 (1939).
DOI
|
5 |
E. P. Barrett, L. G. Joyner, and P. P. Halenda, J. Am. Chem. Soc., 73, 373 (1951).
DOI
|
6 |
P. Davit, G. Martra, and S. Coluccia, J. Jpn. Petrol. Inst., 47, 359 (2004).
DOI
ScienceOn
|
7 |
C. B. Almquist and P. Biswas, J. Catal., 212, 145 (2002).
DOI
ScienceOn
|
8 |
P. M. Kumar, S. Badrinarayanan, and M. Sastry, Thin Solid Films, 358, 122 (2000).
DOI
ScienceOn
|
9 |
F. Gracia, J. P. Holgado, and A. R. Gonzalez-Elipe, Langmuir, 20, 1688 (2004).
DOI
ScienceOn
|
10 |
X. M. He, Q. L. Xie, J. Liu, W. G. Lan, and H. P. Xia, Separ. Purif. Tech., 68, 153 (2009).
DOI
ScienceOn
|
11 |
K. E. Karakitsou and X. E. Verykios, J. Phys. Chem., 97, 1184 (1993).
DOI
|
12 |
Z. Wang, D. Xia, G. Chen, T. Yang, and Y. Chen, Mater. Chem. Phys., 111, 313 (2008).
DOI
ScienceOn
|
13 |
M. Kanna and S. Wongnawa, Mater. Chem. Phys., 110, 166 (2008).
DOI
ScienceOn
|