1 |
H. M. Kim, S. K. Jeung, J. S. Ahn, Y. J. Kang, and C. K. Je, Jpn. J. Appl. Phys., 42, 223 (2003)
DOI
|
2 |
U. S. Patent 5972527, 26 Oct. (1999)
|
3 |
K. Noda, H. Sato, H. Itaya, and M. Yamada, Jpn. J. Appl. Phys., 42, 217 (2003)
DOI
|
4 |
R. K. Jain and R. C. Lind, J. Opt. Soc. Am., 73, 647 (1983)
DOI
ScienceOn
|
5 |
J.-M. Moon, J.-H. Bae, S.-W. Jeong, N.-J. Park, J.-W. Kang, and H.-K. Kim, J. of KIRRME (Korean), 19, 687 (2006)
|
6 |
D.-G. Kim, S. Lee, D-H. Kim, G-H. Lee, and M. Isshiki, Thin Solid Films, 516, 2045 (2008)
DOI
ScienceOn
|
7 |
S. K. Park, J. I. Han, W. K. Kim, and M. G. Kwak, Thin Solid Films, 397, 49 (2001)
DOI
ScienceOn
|
8 |
S. H. Park, H. M. Kim, B. R. Rhee, and E. Y. Gyo, Jpn. J. Appl. Phys., 42, 1429 (2001)
|
9 |
J. S. Hong, J. K. Yoon, B. R. Rhee, S. H. Park, J. J. Kim, and H. M. Kim, Sae Mulli, 48, 339 (2004)
|
10 |
D. Y. Lee and C. W. Chung, Thin Solid Films, 518, 372 (2009)
DOI
ScienceOn
|
11 |
S. Angiolini and M. Avidano, SID 03 DIGEST, 47, 1 (2003)
|
12 |
H. N. Cho, Yue Long Li, S. R. Min, and C. W. Chung, J. Korean Ind. Eng. Chem., 17, 644 (2006)
|
13 |
C. D. Wagner, W. M. Riggs, L. E. Davis, and G. E. Moulder : Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy, Oxford University Press (1990)
|
14 |
B. Shin and C. W. Chung, J. Korean Ind. Eng. Chem., 15, 300 (2004)
|