1 |
S. W. Park, K. Arimitsu, S. G. Lee, and K. lchimura, Chem. Lett., 1036 (2000)
|
2 |
H. Ito, K. Arimitsu, and K. lchimura, Macromol, Chem. Phys., 201, 132 (2000)
|
3 |
A. R. Pawloski, Christian, and P. F. Nealey, J. Am. Chem. Soc., 13, 4154 (2001)
|
4 |
K. I. Hong, E. J. Lee, K. T. Lim, Y. S. Jeong, and Y. T. Jeong, J. Kor. Ind. Eng. Chem., 14, 605 (2003)
|
5 |
K. I. Hong, Y. S. Jeong, K. T. Lim, S. J. Choi, and Y. T. Jeong, J. Ind. Eng. Chem., 10, 864 (2004)
|
6 |
H. Ito, Proc. SPIE., 3678, 2 (1999)
|
7 |
E. J. Lee, K. I. Hong, K. T. Lim, Y. S . Jeoung, S. S. Hong, and Y. T. Jeong, J. Kor. Chem. Soc., 46, 437 (2002)
DOI
|
8 |
E. J. Lee, K. A. Kuen, and Y. T. Jeong, J. Kor. Printing. Soc., 20, 91 (2002)
|
9 |
W. S. Huang, R. E. Kwong, and W. Moreau, Proc. SPIE, 591, 3999 (2000)
|
10 |
E. J. Lee, J. Y. Park, and Y. T. Jeong, J. Kor. Soc. Imaging Sci. Technol., 7, 110 (2001)
|
11 |
S. Kaur, J. V. Crivello, and N. Pascuzzi, J. Polym. Sci., 37, 199 (1999)
DOI
|
12 |
S. J. Bukofsky, G. D. Feke, Q. Wu, R. D. Grober, P. M. Dentinger, and J. W. Taylor, Appl. Phys. Lett., 73, 408 (1998)
DOI
ScienceOn
|