The properties of Al-doped ZnO films deposited with RF magnetron sputtering system in various H2/(Ar + H2) gas ratios

The properties of Al-doped ZnO (AZO) films were investigated as a function of $H_2/(Ar+H_2)$ gas ratio using an AZO (2 wt% $Al_2O_3$) ceramic target in a radio frequency (RF) magnetron sputtering system. The deposition process was done at $200^{\circ}C$ and in $2{\times}10^{-2}$ Torr working pressure and with various ratios of $H_2/(Ar+H_2)$ gas. During the AZO film deposition process, partial $H_2$ gas affected the AZO film characteristics. The electron resistivity (${\sim}9.21{\times}10^{-4}\;{\Omega}cm$) was lowest and mobility (${\sim}17.8\;cm^2/Vs$) was highest in AZO films when the $H_2/(Ar+H_2)$ gas ratio was 2.5 %. When the $H_2/(Ar+H_2)$ gas ratio was increased above 2.5 %, the electron resistivity increased and mobility decreased with increasing $H_2/(Ar+H_2)$ gas ratio in AZO films. The carrier concentration increased with increasing $H_2/(Ar+H_2)$ gas ratio from 0 % to 7.5 %. This phenomenon was explained by reaction of hydrogen and oxygen and additional formation of oxygen vacancy. The average optical transmission in the visible light wavelength region over 90 % and an orientation of the deposition was [002] orientation for AZO films grown with all $H_2/(Ar+H_2)$ gas ratios.

RF 마그네트론 스퍼터링 방법을 사용해 증착된 Al이 도핑 된 ZnO 박막의 H2/(Ar + H2) 가스 비율에 따른 특성

$Al_2O_3$ 2 wt%가 도핑 된 ZnO(AZO) 타겟으로RF 스퍼터링 장비를 사용하여 $H_2/(Ar+H_2)$ 가스 비율에 따른 AZO 박막을 증착 후, 이들 박막의 특성을 조사하였다. AZO 박막은 $200^{\circ}C$, $2{\times}10^{-2}$ 공정조건에서 $H_2/(Ar+H_2)$ 가스 비율을 변화시키면서 증착하였다. AZO박막증착 중 수소가스의 첨가는 박막의 특성에 영향을 미쳤다. $H_2/(Ar+H_2)$ 가스 비율이 2.5 %일 때 비 저항(${\sim}9.21{\times}10^{-4}\;{\Omega}cm$)과 전자 이동도(${\sim}17.8\;cm^2/Vs$)는 각각 최소값과 최대값을 나타내었다. $H_2/(Ar+H_2)$ 가스 비율이 2.5 % 이상일 때는 $H_2/(Ar+H_2)$ 가스 비율이 증가할수록 비저항은 점차로 증가하였고 전자 이동도는 점차적으로 감소하였다. 전자 운반자 농도는 $H_2/(Ar+H_2)$ 가스 비율이 증가함에 따라 0 %에서 7.5 %까지 점차로 증가하였다. $H_2/(Ar+H_2)$ 가스 비율에 따라 증착된 박막의 가시광선 파장 범위에서 평균 광 투과도는 90 % 이상이었고 성장방향은 [002]이었다.