1 |
I. Milosev, H. H. Strehblow and B. Navinsek, Surf. Coat. Technol., 74-75, 897 (1995).
DOI
|
2 |
W. Mayr, W. Lenguer, P. Ettmayer, D. Rafaja, J. Bauer and M. Bhon, J. Phase Equil., 20, 35 (1999).
DOI
|
3 |
J. G. Buijnsters, P. Shankar, J. Sietsma and J. J. Meulen, Mater. Sci. Eng., A341, 289 (2003).
|
4 |
C. Jimrnez, J. Perrirre, C. Palacio, J. P. Enard and J. M. Albella, Thin Solid Films, 228, 247 (1993).
DOI
|
5 |
Q. Sun and Z. Fu, Electrochem. Solid State Lett., 10, A189 (2007).
DOI
|
6 |
L. Hultman, Vacuum, 57, 1 (2000).
DOI
|
7 |
P. Hones, N. Martin, M. Regula and F. Levy, J. Phys. D: Appl. Phys., 36, 1023 (2003).
DOI
|
8 |
K. Liu, S. Young, S. Chang, T. Hsueh, H. Hung, S. Chen and Y. Chen, J. Alloys Compd., 511, 1 (2012).
DOI
|
9 |
K. Ibrahim, M. M. Rahman, H. Taha, E. Mohammadpour, Z. Zhou, C. Y. Yin, A. Nikoloski and Z. T. Jiang, Appl. Surf. Sci., 440, 1001 (2018).
DOI
|
10 |
E. Haye, A. Achour, A. Guerra, F. Moulai, T. Hadjersi, R. Boukherroub, A. Panepinto, T. Brousse, J. J. Pireaux and S. Lucas, Electrochim. Acta, 324, 134890 (2019).
DOI
|
11 |
R. Li, Y. Cai, K. Wippermann and W. Lehnert, J. Power Sources, 434, 226718 (2019).
DOI
|
12 |
S. W. Russell, J. Li, T. L. Alford, P. R. Oakey and S. C. Shatas, Appl. Surf. Sci., 90, 455 (1995).
DOI
|
13 |
J. Kim, C. Byun and S. Kim, Korean J. Mater. Res., 24, 194 (2014).
DOI
|
14 |
Y. Kubo, Y. Sonohara and S. Uemura, Appl. Surf. Sci., 553, 149437 (2021).
DOI
|
15 |
R. T. Haasch, T. Y. Lee, D. Gall, J. E. Green and I. Petrov, Surf. Sci. Spectra, 7, 3 (2000).
|
16 |
A. Lippitz and T. Hubert, Surf. Coat. Technol., 200, 250 (2005).
DOI
|
17 |
S. Agouram, F. Bodart and G. Terwagne, Surf. Coat. Technol., 180-181, 164 (2004).
DOI
|
18 |
B. E. Deal and A. S. Grove, J. Appl. Phys., 36, 3770 (1965).
DOI
|
19 |
J. Lee and S. Kim, Korean J. Mater. Res., 15, 348 (2005).
DOI
|
20 |
B. D. Cullity, Elements of X-ray Diffraction, 2nd ed., p. 407, Addison-Wesley, London (1978).
|