Electrocaloric Effect in Emerging Fluorite-Structure Ferroelectrics |
Yang, Kun
(School of Materials Science and Engineering, Pusan National University)
Park, Ju Yong (School of Materials Science and Engineering, Pusan National University) Lee, Dong Hyun (School of Materials Science and Engineering, Pusan National University) Park, Min Hyuk (School of Materials Science and Engineering, Pusan National University) |
1 | T. S. Boscke, J. Muller, D. Brauhaus, U. Schroder and U. Bottger, Appl. Phys. Lett., 99, 102903 (2011). DOI |
2 | M. H. Park, Y. H. Lee, H. J. Kim, Y. J. Kim, T. Moon, K. D. Kim, J. Muller, A. Kersch, U. Schroeder, T. Mikolajick and C. S. Hwang, Adv. Mater., 27, 1811 (2015). DOI |
3 | O. Ohtaka, H. Fukui, T. Kunisada, T. Fujisawa, K. Funakoshi, W. Utsumi, T. Irifune, K. Kuroda and T. Kikegawa, J. Am. Ceram. Soc., 84, 1369 (2001). DOI |
4 | O. Ohtaka, H. Fukui, T. Kunisada, T. Fujisawa, K. Funakoshi, W. Utsumi, T. Irifune, K. Kuroda and T. Kikegawa, Phys. Rev. B: Condens. Matter Mater. Phys., 63, 174108 (2001). DOI |
5 | U. Schroeder, E. Yurchuk, J. Muller, D. Martin, T. Schenk, P. Polakowski, C. Adelmann, M. I. Popovici, S. V. Kalinin and T. Mikolajick, Jpn. J. Appl. Phys., 53, 08LE02 (2014). DOI |
6 | M. H. Park, T. Schenk, C. M. Fancher, E. D. Grimley, C. Zhou, C. Richter, J. M. LeBeau, J. L. Jones, T. Mikolajick and U. Schroeder, J. Mater. Chem. C, 5, 4677 (2017). DOI |
7 | P. Polakowski and J. Muller, Appl. Phys. Lett., 106, 232905 (2015). DOI |
8 | T. Mittmann, M. Materano, P. D. Lomenzo, M. H. Park, I. Stolichnov, M. Cavalieri, C. Zhou, C.-C. Chung, J. L. Jones, T. Szyjka, M. Muller, A. Kersch, T. Mikolajick and U. Schroeder, Adv. Mater. Interfaces, 6, 1900042 (2019). |
9 | B. T. Lin, Y.-W. Lu, J. Shieh and M.-J. Chen, J. Eur. Ceram. Soc., 37, 1135 (2017). DOI |
10 | S. Starschich, T. Schenk, U. Schroeder and U. Boettger, Appl. Phys. Lett., 110, 182905 (2017). DOI |
11 | X. Sang, E. D. Grimley, T. Schenk, U. Schroeder and J. M. LeBeau, Appl. Phys. Lett., 106, 162905 (2015). DOI |
12 | Y. Wei, P. Nukala, M. Salverda, S. Matzen, H. J. Zhao, J. Momand, A. S. Everhardt, G. Agnus, G. R. Blake, P. Lecoeur, B. J. Kooi, J. Iniguez, B. Dkhil and B. Noheda, Nat. Mater., 17, 1095 (2018). DOI |
13 | K. D. Kim, M. H. Park, H. J. Kim, Y. J. Kim, T. Moon, Y. H. Lee, S. D. Hyun, T. Gwon and C. S. Hwang, J. Mater. Chem. C, 4, 6864 (2016). DOI |
14 | M. H. Park and C. S. Hwang, Rep. Prog. Phys., 82, 124502 (2019). DOI |
15 | M. H. Park, H. J. Kim, Y. J. Kim, T. Moon, K. D. Kim and C. S. Hwang, Nano Energy, 12, 131 (2015). DOI |
16 | M. H. Park, H. J. Kim, Y. J. Kim, T. Moon, K. D. Kim, Y. H. Lee, S. D. Hyun and C. S. Hwang, Adv. Mater., 28, 7956 (2016). DOI |
17 | M. H. Park, T. Schenk, M. Hoffmann, S. Knebel, J. Gartner, T. Mikolajick and U. Schroeder, Nano Energy, 36, 381 (2017). DOI |
18 | M. Hoffmann, U. Schroeder, C. Kunneth, A. Kersch, S. Starschich, U. Bottger and T. Mikolajick, Nano Energy, 18, 154 (2015). DOI |
19 | M. H. Park, H. J. Kim, Y. J. Kim, T. Moon, K. D. Kim and C. S. Hwang, Adv. Energy Mater., 4, 1400610 (2014). DOI |
20 | K. D. Kim, Y. H. Lee, T. Gwon, Y. J. Kim, H. J. Kim, T. Moon, S. D. Hyun, H. W. Park, M. H. Park and C. S. Hwang, Nano Energy, 39, 390 (2017). DOI |
21 | M. H. Park, C. S. Hwang, Ferroelectric-Gate Field Effect Transistor Memories. Topics in Applied Physics, p. 295, B.-E. Park, H. Ishiwara, M. Okuyama, S. Sakai and S.-M. Yoon, vol. 131, Springer, Dordrecht (2016). |
22 | M. H. Park, Y. H. Lee, T. Mikolajick, U. Schroeder and C. S. Hwang, MRS Commun., 8, 795 (2018). DOI |
23 | T. Mikolajick, S. Slesazeck, M. H. Park and U. Schroeder, MRS Bull., 43, 340 (2018). DOI |
24 | M. H. Park, T. Mikolajick, U. Schroeder and C. S. Hwang, Phys. Status Solidi RRL, 13, 1900177 (2019). DOI |
25 | M. H. Park, T. Shimizu, H. Funakubo, U. Schroeder, Ferroelectricity in Doped Hafnium Oxide: Materials, Properties and Devices, p.193-216, U. Schroeder, C. S. Hwang, H. Funakubo (eds), Woodhead Publishing, The Officers' Mess Business Centre, Royston Road, Duxford, CB22 4QH, United Kingdom (2019). |
26 | T. Shimizu, K. Katayama, T. Kiguchi, A. Akama, T. J. Konno, O. Sakata and H. Funakubo, Sci. Rep., 6, 32931 (2016). DOI |
27 | M. H. Park, C. C. Chung, T. Schenk, C. Richter, M. Hoffmann, S. Wirth, J. L. Jones, T. Mikolajick and U. Schroeder, Adv. Electron. Mater., 4, 1700489 (2018). DOI |
28 | R. Materlik, C. Kunneth and A. Kersch, J. Appl. Phys., 117, 134109 (2015). DOI |
29 | T. D. Huan, V. Sharma, G. A. Rossetti Jr. and R. Ramprasad, Phys. Rev. B: Condens. Matter Mater. Phys., 90, 064111 (2014). DOI |
30 | S. -G. Lu, Q. Zhang, Adv. Mater., 21, 1983 (2009). DOI |
31 | Y. L. Li, L. E. Cross and L. Q. Chen, J. Appl. Phys., 98, 064101 (2005). DOI |
32 | G. Ackay, S. P. Alpay, J. V. Mantese and G. A. Rossetti Jr., Appl. Phys. Lett., 90, 252909 (2007). DOI |
33 | X. Wu and G. Li, Adv. Mater. Res., 335-336, 1004 (2011). DOI |
34 | M. A. Hamad, Phase Transitions, 85, 159 (2012). DOI |
35 | B. Li, W. J. Ren, X. W. Wang, H. Meng, X. G. Liu, Z. J. Wang and Z. D. Zhang, Appl. Phys. Lett., 96, 102903 (2010). DOI |
36 | B. Neese, B. Chu, S. -G. Lu,Y. Wang, E. Furman and Q. M. Zhang, Science, 321, 821 (2008). DOI |
37 | Y. Bai, G.-P. Zheng, K. Ding, L. Qiao, S.-Q. Shi and D. Guo, J. Appl. Phys., 110, 094103 (2011). DOI |
38 | A. S. Mischenko, Q. Zhang, J. F. Scott, R. W. Whatmore and N. D. Mathur, Science, 311, 1270 (2006). DOI |
39 | H. Chen, T.-L. Ren, X.-M. Wu, Y. Yang and L.-T. Liu, Appl. Phys. Lett., 94, 182902 (2009). DOI |
40 | L. D. Landau, Phys. Z. Sowjet., 11, 26 (1937). |
41 | A. F. Devonshire, Philos. Mag., 40, 1040 (1949). DOI |
42 | M. E. Lines, A. M. Glass, Principles and Applications of Ferroelectrics and Related Materials, p.1-42, Oxford University Press, Oxford, UK (2001). |
43 | X. Lu, H. Li and W. Cao, J. Appl. Phys., 114, 224106 (2013). DOI |
44 | N. A. Pertsev, A. G. Zembilgotov and A. K. Tagantsev, Phys. Rev. Lett., 80, 1988 (1998). DOI |
45 | S. Ducharme, V. M. Fridkin, A. V. Bune, S. P. Palto, L. M. Blinov, N. N. Petukhova and S. G. Yudin, Phys. Rev. Lett., 84, 175 (2000). DOI |
46 | L. Li, O. Niehaus, M. Kersting and R. Pottgen, Appl. Phys. Lett., 104, 092416 (2014). DOI |
47 | M.-H. Phan and S.-C. Yu, J. Magn. Magn. Mater., 308, 325 (2007). DOI |
48 | V. K. Pecharsky, K. A. Gschneidner and A. O. Tsokol, Rep. Prog. Phys., 68, 1479 (2005). DOI |
49 | M. H. Phan, H. X. Peng and S. C. Yu, J. Appl. Phys., 97, 10M306 (2005). DOI |
50 | M. H. Phan, N. D. Tho, N. Chau, S. C. Yu and M. Kurisu, J. Appl. Phys., 97, 3215 (2005). |
51 | S. Starshich, T. Schenk, U. Schroeder and U. Boettger, Appl. Phys. Lett., 110, 182905 (2017). DOI |
52 | S. Linsinger, W. Hermes, M. Eul and R. Pottgen, J. Appl. Phys., 108, 043903 (2010). DOI |