1 |
J. M. Jaklevic and F. S. Goulding, Energy Dispersion in X-ray Spectrometry, p.50, ed. H. K. Herglotz and L. S.Birks, NY: M. Dekker (1978).
|
2 |
A. A. Dakhel and H. Hamad, Int. J. Thin Films Sci. Technol., 1, 25 (2012).
|
3 |
A. A. Dakhel, Chem. Phys., 130, 398 (2011).
|
4 |
A. A. Dakhel, J. Mater. Sci.: Mater. Electron., 29, 3584 (2018).
DOI
|
5 |
L. B. McCusker, R. B. Von Dreele, D. E. Cox, D. Louer and P. Scardi, J. Appl. Cryst., 32, 36 (1999).
DOI
|
6 |
A. Khorsand Zak, W. H. Abd Majid, M. E. Abrishami and R. Yousefi, Solid State Sci., 13, 251 (2011).
DOI
|
7 |
J. Tauc and F. Abelesn ed., Optical Properties of Solids, North Holland (1969).
|
8 |
J. I. Pankove, Optical processes in semiconductors, p. 36, NY: Dover (1975).
|
9 |
Y. Z. Zhang, J. G. Lu, Z. Z. Ye, H. P. He, L. P. Zhu, B. H. Zhao and L. Wang, Appl. Surf. Sci., 254, 1993 (2008).
DOI
|
10 |
Y. Dou, R. G. Egdell, T. Walker, D. S. L. Law and G. Beamson, Surf. Sci., 398, 241 (1998).
DOI
|
11 |
M. Chen, Z. L. Pei, X. Wang, Y. H. Yu, X. H. Liu, C. Sun and L. S. Wen, J. Phys. D: Appl. Phys., 33, 2538 (2000).
DOI
|
12 |
B. G. Lewis and D. C. Paine, Mater. Res. Soc. Bull., 25, 22 (2000).
|
13 |
M. Yan, M. Lane, C. R. Kannewarf and R. P. H. Changa, Appl. Phys. Lett., 78, 2342 (2001).
DOI
|
14 |
Powder Diffraction File, Joint Committee for Powder Diffraction Studies (JCPDS) file No. 05-0640.
|
15 |
Z. Zhao, D. L. Morel and C. S. Ferekides, Thin Solid Films, 413, 203 (2002).
DOI
|
16 |
K. M. A. Hussain, Z. H. Mahmood, I. M. Syed, T. Begum, T. Faruqe1 and J. Parvin, Am. J. Mater. Sci. Application, 2, 91 (2014).
|
17 |
P. K. Gupta, K. Ghosh, R. Patel, S. R. Mishra and P. K. Kahol, Curr. Appl. Phys., 9, 673 (2009).
DOI
|
18 |
A. A. Dakhel, Adv. OptoElectron., 2013, 6 (2013).
DOI
|
19 |
A. A. Dakhel, Thin Solid Films, 41, 2405 (2012).
|
20 |
F. V. Wald, Revue de Physique Appliquee, 12, 277 (1977).
DOI
|
21 |
R. D. Shannon, Acta Crystallogr., Sect. A: Found. Adv., 32, 751 (1976).
DOI
|
22 |
S. Sonmezoglu, T. A. Termeli, S. Akin and I. Askeroglu, J. Sol-Gel Sci. Technol., 67, 97 (2013).
DOI
|
23 |
A. A. Dakhel, Sol. Energy, 84, 1433 (2010).
DOI
|
24 |
F. Jamali-Sheini, R. Yousefi, M. R. Mahmoudian, N. A. Bakr, A. Saaedi and N. M. Hyang, Ceram. Int., 40, 7737 (2014).
DOI
|
25 |
S. Sonmezoglu and E. Akman, Appl. Surf. Sci., 318, 319 (2014).
DOI
|
26 |
T. Minami, Thin Solid Films, 516, 1314 (2008).
DOI
|
27 |
T. Ratcheva, M. Nanova, L. Kinova and I. Penev, Thin Solid Films, 202, 243 (1991).
DOI
|
28 |
B. Georgieva, I. Podolesheva, G. Spasov and J. Pirov, Sensors (Basel), 14, 8950 (2014).
DOI
|