1 |
M. E. Schrader, Langmuir, 11, 3585 (1995).
DOI
|
2 |
S. M. Fikke, J. E. Kristjansson and B. E. K. Nygaard, Atmospheric Icing of Power Networks, p.2, M. Farzaneh, Springer Science & Business Media, Germany (2008).
|
3 |
J. H. Lee, H. Y. Jung, J. R. Koo, Y. J. Yoon and H. J. Jung, J. Electr. Eng. Technol., 12, 969 (2017).
DOI
|
4 |
J. L. Larforte, M. A. Allaire and J. Laflamme, Atmos. Res., 46, 143 (1998).
DOI
|
5 |
K. J. Zhu, D. J. Fu, J. C. Wang and N. Sun, Electrical Equipment, 6, 969 (2008).
|
6 |
W. K. Kim, S. J Cho and J. H. Shim, The Korean Inst. of Electr. Eng., 36, 673 (2005).
|
7 |
J. Ayres, W. H. Simendinger and C. M. Balik, J. Coat. Technol. Res., 4, 463 (2007).
DOI
|
8 |
Y. Tak, J. Korean Ind. Eng. Chem., 17, 335 (2006).
|
9 |
C. R. F. Azevedo and T. Cescon, Eng. Failure Anal., 9, 645 (2002).
DOI
|
10 |
J. K. Zhang, G. H. Chen and J. Q. Wang, Corros. Prot., 31, 581 (2010).
|
11 |
J. K. Zhang, G. H. Chen and J. Q. Wang, The Chin. J. Nonferrous Met., 21, 411 (2011).
|
12 |
L. L. Cao, A. K. Jones, V. K. Sikka, J. Z. Wu and D. Gao, Langmuir, 25, 12444 (2009).
DOI
|
13 |
T. Bharathidasan, S. V. Kumar, M. S. Bobji, R. P. S. Chakradhar and B. J. Basu, Appl. Surf. Sci., 314, 241 (2014).
DOI
|
14 |
J. Chen, J. Liu, M. He, K. Li, D. Cui, Q. Zhang, X. Zeng, Y. Zhang, J. Wang and Y. Song, Appl. Phys. Lett., 101, 111603 (2012).
DOI
|
15 |
S. A. Kulinich, S. Farhadi, K. Nose and X. W. Du, Langmuir, 27, 25 (2011).
DOI
|