1 |
Y. K. Kim, T. E. Jeong, D. H. Oh and N. S. Kim, Trans. Korean Soc. Mech. Eng. A, 34, 1837 (2010).
DOI
|
2 |
M. Pospischil, K. Zengerle, J. Specht, G. Birkle, P. Koltay, R. Zengerle, A. Henning, M. Neidert, C. Mohr, F. Clement and D. Biro, Energy Procedia, 8, 449 (2011).
DOI
|
3 |
C.-J. Lee and D.-Y. Shin, Trans. Korean Soc. Mech. Eng. B, 36, 1135 (2012).
DOI
|
4 |
S. De Wolf, A. Descoeudres, Z. C. Holman and C. Ballif, Appl. Phys. Lett., 101, 171604 (2002).
DOI
|
5 |
C. Xu, J. Wang, M. Wang, H. Jin, Y. Hao and C. P. Wen, Solid-State Electron., 50, 843 (2006).
DOI
|
6 |
S. H. Lee, D. W. Lee, H. J. Kim, A. R. Lee, S. H. Lee, K. J. Lim and W. S. Shin, Mater. Sci. Semicond. Process., 87, 19 (2018).
DOI
|
7 |
D.-H. Kim, S.-S. Ryu, D. Shin, J.-H. Shin, J.-J. Jeong, H.-J. Kim and H. S. Chang, Mater. Sci. Eng., B, 177, 217 (2012).
DOI
|