1 |
H.-C. Shin and M. Liu, Chem. Mater., 16, 5460 (2004).
DOI
|
2 |
J. Cabana, J. Monconduit, D. Larcher and M. R. Palacin, Adv. Mater., 22, E170 (2010).
DOI
|
3 |
M. Ahmad, J. Zhao, J. Iqbal, W. Miao, L. Xie, R. Mo and J. Zhu, J. Mater. Chem., 21, 7723 (2011).
DOI
|
4 |
D. H. Ha, M. A. Islam and R. D. Robinson, Nano Lett., 12, 5122 (2012).
DOI
|
5 |
Y. M. Chun and H. C. Shin, Electrochim. Acta, 209, 369 (2016).
DOI
|
6 |
J. Vetter, P. Nova'k, M.R. Wagner, C. Veit, K.-C. Moller, J.O. Besenhard, M. Winter, M. Wohlfahrt-Mehrens, C. Vogler and A. Hammouche, J. Power Sources, 147, 269 (2005).
DOI
|
7 |
M. Wachtler, M. Winter and J. O. Besenhard, J. Power Sources, 105, 151 (2002).
DOI
|
8 |
H.-C. Shin, J. Dong and M. Liu, Adv. Mater., 15, 1610 (2003).
DOI
|
9 |
K.-L. Lee, J.-Y. Jung, S.-W. Lee, H.-S. Moon and J.-W. Park, J. Power Sources, 129, 270 (2004).
DOI
|
10 |
R. H. Kim, D. W. Han, D. H. Nam, J. H. Kim and H. S. Kwon, J. Electrochem. Soc., 157, D269 (2010).
DOI
|
11 |
Y. H. Rho, K. Kanamura, M. Fujisaki, J.-I. Hamagami, S.-I. Suda and T. Umegaki, Solid State Ionics, 151, 151 (2002).
DOI
|
12 |
H. Duan, J. Gnanaraj, X. Chen, B. Li and J. Liang, J. Power Sources, 185, 512 (2008).
DOI
|
13 |
P. L. Taberna, S. Mitra, P. Poizot, P. Simon and J. M. Tarascon, Nat. Mater., 5, 567 (2006).
DOI
|
14 |
M. H. Ryou, Y. M. Lee, Y. Lee, M. Winter and P. Bieker, Adv. Funct. Mater., 25, 834 (2015).
DOI
|
15 |
X. Zhou, G. E. Thompson, H. Habazaki, K. Shimizu, P. Skeldon and G. C. Wood, Thin Solid Films, 293, 327 (1997).
DOI
|
16 |
S. Rudenja, J. Pan, I. Odnevall, C. Leygraf, P. Kulu, J. Electrochem. Soc., 146(11), 4082, (1999)
DOI
|
17 |
J. P. O'sullivan, and G. C. Wood, Proc. R. Soc. Lond. A, 317, 511 (1970).
DOI
|
18 |
D. Gong, C. A. Grimes, O. K. Varghese, W. Hu, R. S. Singh, Z. Chen and E. C. Dickey, J. Mater. Res., 16, 3331 (2001).
DOI
|
19 |
G. E. Thompson, Thin Solid Films, 297, 192 (1997).
DOI
|
20 |
J.-W. Lee, S.-J. Park, W.-S. Choi, H.-C. Shin, Electrochim. Acta, 56, 5919 (2011).
DOI
|
21 |
K. Nielsch, J. Choi, K. Schwirn, R. B. Wehrspohn and U. Gosele, Nano Lett., 2, 677 (2002).
DOI
|
22 |
S. H. Park, H. S. Shin, Y. H. Kim, H. M. Park and J. Y. Song, J. Alloys Compd., 580, 152 (2013).
DOI
|
23 |
J. L. Ord and D. J. DeSmet, J. Electrochem. Soc., 123, 1876 (1976).
DOI
|