1 |
M. Matsuoka, Jpn. J. Appl. Phys., 10, 736 (1971).
DOI
|
2 |
L. M. Levinson and H. R. Philipp, Am. Ceram. Soc. Bull., 65, 639 (1986).
|
3 |
T. K. Gupta, J. Am. Ceram. Soc., 73, 1817 (1990).
DOI
|
4 |
H. R. Pilipp and L. M. Levinson, J. Appl. Phys., 46, 1332 (1976).
DOI
|
5 |
K. Mukae, Am. Ceram. Bull., 66, 1329 (1987).
|
6 |
C.-W. Nahm and C.-H. Park, J. Mater. Sci., 35, 3037 (2000).
DOI
|
7 |
J.-K. Tsai and T.-B. Wu, J. Appl. Phys., 76, 481 (1994).
|
8 |
J.-K. Tsai and T.-B. Wu, Mater. Lett., 26, 199 (1996).
DOI
|
9 |
C.-W. Nahm, J. Am. Ceram. Soc., 94, 2269 (2011).
DOI
|
10 |
C.-W. Nahm, J. Mater. Sci.: Mater. Electron., 22, 444 (2011).
DOI
|
11 |
C.-W. Nahm, Microelectron. Reliability, 54, 2836 (2014).
DOI
|
12 |
C.-W. Nahm, J. Mater. Sci.: Mater. Electron., 23,457 (2012).
DOI
|
13 |
C.-S. Chen, J. Mater. Sci., 38, 1033 (2003).
DOI
|
14 |
H. Pfeiffer and K. M. Knowles, J. Eur. Ceram. Soc., 24, 1199 (2004).
DOI
|
15 |
M. Zhao, X. C. Liu, W. M. Wang, F. Gao and C. S. Tian, Ceram. Int., 34, 1425 (2008).
DOI
|
16 |
Z. Ming, S. Yu and T. C. Sheng, J. Eur. Ceram. Soc., 31, 2331 (2011).
DOI
|
17 |
M. Mirzayi and M. H. Hekmatshoar, Phys. B (Amsterdam, Neth.), 414, 50 (2013).
DOI
|
18 |
C.-W. Nahm, J. Alloys Compd., 578, 132 (2013)
DOI
|
19 |
C.-W. Nahm, J. Korean Ceram. Soc., 55, 504 (2018)
DOI
|
20 |
J. C. Wurst and J. A. Nelson, J. Am. Ceram. Soc., 55,109 (1972).
DOI
|
21 |
M. Mukae, K. Tsuda and I. Nagasawa, J. Appl. Phys., 50, 447 (1979).
|