1 |
J. H. Lee, S. J. Heo, J. I. Youn, Y. J. Kim, I. K. Kim, K. W. Jang and H. J. Oh, Korean J. Mater. Res., 27, 569 (2017).
DOI
|
2 |
A. Chen, H. Long, X. Li, Y. Li, G. Yang and P. Lu, Vacuum, 83, 927 (2009).
DOI
|
3 |
G. Papadimitropoulos, N. Vourdas, V. Em. Vamvakas and D. Davazoglou, Thin Solid Films, 515, 2428 (2006).
DOI
|
4 |
A. S. Zoolfakar, R. A. Rani, A. J. Morfa, A. P. O'Mullane and K. Kalantar-zadeh, J. Mater. Chem. C, 2, 5247 (2014).
DOI
|
5 |
B. K. Meyer, A. Polity, D. Reppin, M. Becker, P. Hering, P. J. Klar, Th Sander, C. Reindl, J. Benz, M. Eickhoff, C. Heiliger, M. Heinemann, J. Blasing, A. Krost, S. Shokovets, C. Muller and C. Ronning, Phys. Status Solidi B, 249, 1487 (2012).
DOI
|
6 |
R. Wick and S. D. Tilley, J. Phys. Chem. C., 119, 26243 (2015).
DOI
|
7 |
J. Luo, L. Steier, M.-K. Son, M. Schreier, M. T. Mayer and M. Gratzel, Nano Lett., 16, 1848 (2016).
DOI
|
8 |
Y. Yang, D. Xu, Q. Wu and P. Diao, Sci. Rep., 6, 35158 (2016).
DOI
|
9 |
M. A. Hossain, R. Al-Gaashani, H. Hamoudi, M. J. Al Marri, I. A. Hussein, A. Belaidi, B. A. Merzougui, F. H. Alharbi and N. Tabet, Mater. Sci. Semicond. Process., 63, 203 (2017).
DOI
|
10 |
S. J. Park, H. Kim and D. J. Kim, Korean J. Mater. Res., 24, 19 (2014).
DOI
|
11 |
D. K. Cheon, K. J. Ahn and W. Lee, Korean J. Mater. Res., 27, 69 (2017).
DOI
|
12 |
C. E. Knapp and C. J. Carmalt, Chem. Soc. Rev., 45, 1036 (2016).
DOI
|
13 |
R. J. Jaccodine, J. Electrochem. Soc., 110, 524 (1963).
DOI
|
14 |
A. Eskandari, P. Sangpour and M. R. Vaezi, Mater. Chem. Phys., 147, 1204 (2014).
DOI
|
15 |
Y. C. Zhang, J. Y. Tang, G. L. Wang, M. Zhang and X. Y. Hu, J. Crystal Growth, 294, 278 (2006).
DOI
|
16 |
A. Y. Oral, E. Mensur, M. H. Aslan and E. Basaran, Mater. Chem. Phys., 83, 140 (2004).
DOI
|
17 |
J. C. Tauc, Optical Properties of Solids, North-Holland, Amsterdam (1972).
|
18 |
M. Y. Lee, S. H. Kim and I. K. Park, Physica B, 500, 4 (2016).
DOI
|
19 |
T. Ikenoue, S. Sakamoto and Y. Inui, Jpn. J. Appl. Phys., 53, 05FF06 (2014).
DOI
|
20 |
K. Chen, C. J. Chiang and D. Ray, Mater. Lett., 95, 172 (2013).
DOI
|