1 |
C. S. Oh, K. W. Koo, C. S. Han, J. W. Kim, H. C. Kim, Y. S. Lee, Y. T. Choi and Y. H. Kim, Korean J. Inst. Met. Mater., 47, 516 (2009).
|
2 |
S. Q. Li, T. L. Wijesinghe and D. J. Blackwood, Adv. Mater., 20, 3165 (2008).
DOI
|
3 |
S. Lazarouk, V. Bondarenko, S. La Monica, G. Maiello, G. Masini, P. Pershukevich and A. Ferrari, Thin Solid Films, 276, 296 (1996).
DOI
|
4 |
F. A. Rustamov, N. H. Darvishov, V. E. Bagiev, M. Z. Mamedov, E. Y. Bobrova and H. O. Qafarova, J. Lumin., 154, 224 (2014).
DOI
|
5 |
C. Oruc and S. Guler, Int. J. Hydrogen Eenergy, 39, 20183 (2014).
DOI
|
6 |
D. Badeva, F. Tran-Van, L. Beouch, C. Chevrot, I. Markova, T. Racheva and G. Froyer, Mater. Chem. Phys., 133, 592 (2012).
DOI
|
7 |
A. Biaggi-Labiosa, L. F. Fonseca, O. Resto and I. Balberg, J. Lumin., 128, 321 (2008).
DOI
|
8 |
S. M. Prokes, J. A. Fretas, Jr. and P. C. Searson, Appl. Phys. Lett., 60, 3295 (1992).
DOI
|
9 |
K. Nakagawa, A. Nishida, T. Shimada, H. Yamaguchi and K. Eguchi, Jpn. J. Appl. Phys., 31, L515 (1992).
DOI
|
10 |
H. Koyama, M. Arai, Y. Yamamoto and N. Koshida, Jpn. J. Appl. Phys., 30, 3606 (1991).
DOI
|