1 |
A. Umar, S. H. Kim, J. H. Kim and Y. B. Hahn, Mater. Lett., 62, 167 (2008).
DOI
|
2 |
X. Cai, F. Wang, D. Yan, Z. Zhu and X. Gu, Ceram. Int., 40, 12293 (2014).
DOI
|
3 |
Y. S. Lim, J. W. Park, S. T. Hong and J. Kim, Mat. Sci. Eng. B, 129, 100 (2006).
DOI
|
4 |
T. Ates, C. Tatar and F. Yakuphanoglu, Sensor Actuat. A, 190, 153 (2013).
DOI
|
5 |
Y. B. Kwon, S. W. Shin, H. K. Lee, J. Y. Lee, J. H. Moon and J. H. Kim, Curr. Appl. Phys., 11, S197 (2011).
|
6 |
T. Tian, J. Xing, L. Cheng, L. Zheng, W. Ruan, X. Ruan and G. Li, Ceram. Int., 41, S774 (2015).
DOI
|
7 |
Z. G. Chen, F. Li, G. Liu, Y. Tang, H. Cong, G. Q. Lu and H. M. Cheng, J. Nanosci. Nanotechno., 6, 704 (2006).
DOI
|
8 |
B. D. Yao, Y. F. Chan and N. Wang, Appl. Phys. Lett., 81, 757 (2002).
DOI
|
9 |
A. Umar, E. K. Suh and Y. B. Hahn, Solid State Commun., 139, 447 (2006).
DOI
|
10 |
W. J. Li, E. W. Shi, W. Z. Zhong and Z. W. Yin, J. Cryst. Growth, 203, 186 (1999).
DOI
|
11 |
K. Vanheusden, C. H. Seager, W. L. Warren, D. R. Tallant and J. A. Voigt, Appl. Phys. Lett., 68, 403 (1996).
DOI
|