1 |
Hee Yeon Yang, Young Soo No, Jin Young Kim, and Tae Whan Kim, Jap. J. Appl. Phys., 51, 06FG13 (2012).
DOI
|
2 |
M. S. Kim, K. G. Yim, D. Y. Kim, S. Kim, G. Nam, D. Y. Lee, S. O. Kim, J. S. Kim, J S. Kim, J. S. Son, and J. Y. Leem, Electron. Mater. Lett., 8, 75 (2012).
DOI
ScienceOn
|
3 |
D. H. Lee, K. W. Kim, Y. S. Chun, S. S. Kim and S. Y. Lee, Curr. Appl. Phys., 12, 1586 (2012).
DOI
ScienceOn
|
4 |
Jang-Yeon Kwon, Do-Joong Lee and Ki-Bum Kim, Electron. Mater. Lett., 7/1, 1 (2011).
|
5 |
H. Yanagi, T. Hase, S. Ibuki, K. Ueda and H. Hosono, Appl. Phys. Lett., 78, 1583 (2001).
DOI
ScienceOn
|
6 |
Y. Ogo, H. Hiramatsu, K. Nomura, H. Yanagi, T. Kamiya, M. Kimura, M. Hirano and H. Hosono, Phys. Status Solidi A, 206, 2187 (2009).
DOI
ScienceOn
|
7 |
Chun-Chieh Lo, Tsung-Eong Hsieh, Ceram. Inter., 38, 3977 (2012).
DOI
ScienceOn
|
8 |
C. H. Ahn, Y. Y. Kim, D. C. Kim, S. K. Mohanta and H. K. Cho, J. Appl. Phys., 105, 013502 (2009).
DOI
ScienceOn
|
9 |
J. S. Park, W. J. Maeng, H. S. Kim and J. S. Park, Thin Solid Films, 520, 1679 (2012).
DOI
ScienceOn
|
10 |
S. W. Tsao, T. C. Chang, S. Y. Huang, M. C. Chen, S. C. Chen, C. T. Tsai, Y. J. Kuo, Y. C. Chen, W. C. Wu, Solid-State Electron., 54, 1497 (2010).
DOI
ScienceOn
|
11 |
S. Fernandez, A. Martinez-Steele, J. J. Gandia, F. B. Naranjo, Thin Solid Films, 517, 3152 (2009).
DOI
ScienceOn
|
12 |
H. Hosono, J. Non-Cryst. Solids, 352, 851 (2006).
DOI
ScienceOn
|
13 |
Y. S. Choi, J. W. Kang, D. K. Hwang and S. J. Park, IEEE Trans. Electron. Devices, 57, 26 (2010).
DOI
ScienceOn
|
14 |
Y. Liu, C. R. Gorla, S. Liang, N. Emanetoglu, Y. Lu, H. Shen and M. Wraback, J. Electron. Mater., 29, 69 (2000).
DOI
ScienceOn
|
15 |
Oleg Mitrofanov and Michael Manfra, J. Appl. Phys., 95, 6414 (2004).
DOI
ScienceOn
|